陈春章数字集成电路物理设计阅读笔记

CIW,command in window
纳米设计中,要OPC(optical proximity correcttion,光学近似检查),PSM(移相掩模,phase shifting masks)
WC(worst case)进行建立时间的检查
时钟频率快时,要注意PAE(工艺天线效应)。收集空间电荷的金属又称工艺天线。
签核GDSII
时序收敛
trial route 实验布线法
静态时序分析STA
DRC design rule check
LVS layout versus schematic 验证版图和电路原理图的电路结构是否一致
MUX multiplexer
PTV:process(工艺),temperature(温度),voltage(电压)
版图规划-布局-布线
sdc标准设计约束
芯片面积较大,时序较为紧张时,可以用flip-chip(倒置封装),即IO放在芯片中间
电源环参数:宽度,间距,对数。
宽线要打孔散热,slotting和spliting,因此电源环不能太宽。
在这里插入图片描述
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transition沿变
setup时间受slow影响,hold时间受fast影响

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