Why Test？

Why Test？

可测试性（testability）是一种设计的属性，衡量了全面测试制造设计的正确性的难易程度。原始的设计和测试过程是分开的，只有在设计周期的结尾考虑测试。而DFT将测试和设计融合在一起。

来自foundary的devices需要被测试以识别出有缺陷的devices。通过插入scan来增加芯片本身的可测试性，并且使用ATPG生成patterns以识别这些缺陷。没有缺陷的devices被销售给顾客，有时有缺陷的devices通过了所有的应用测试——这被称为测试逃避（test escapes）。在顾客手中出现失败的devices会被返回。

 缺陷是发生在silicon上的物理问题，可能会导致silicon的性能与设计不同。制造问题能够造成各种缺陷，例如：

1. hard tie到电源或地，节点总是stuck-at 1或stuck-at 0。当创建test pattern以force节点到相反值是，该defect容易被检测到。

2.两个连接之间短路，或桥接。节点在周围的net状态下，有条件的出现stuck-at 1或stuck-at 0；在一个path上的数据会带给不同path上的数据不利影响。

3.capacitive或resistive节点。慢的0->1 transition，或1->0 transition。可以被扩展到查找沿着关键路径的精确时间延迟。或者是path延迟比期望延迟更长。

有不同类型的测试尝试捕获可能出现在device中的任意缺陷。过去，在使用scan testing和ATPG之前，应用的是功能测试。功能或工程测试应用激励到设计上为了证明在测试下device满足工程规格。

manufacturing tests是为了确保device被正确制造。能够验证设计没有制造缺陷，但是不能验证silicon满足预期的行为，电路可能通过测试，但是设计可能功能不正确（例如，不能像功能规格描述的那样操作）。

manufacturing测试的类型：

• scan test
• 具有压缩的scan test
• BIST：Memorytest和Logic test
• Functional test：效率低；难以确定测试覆盖率

Introduction to Scan Test and ATPG

测试是一个控制和观测问题。

control：能够使用test pattern有目的地激励目标位置？

observe：能够观察激励地效应？

fault models提供模拟defects的一种缺陷，为了可以生成patterns来识别defects。当在good behavior和faulty behavior之间观测到差异时能够检测到故障。最常见的fault model是stuck-at。

 test patterns伴随两件事：fault activation（control）和fault propagation （observe）。

fault activation在故障模型位置建立一个信号值，与故障模型产生的值相反。fault propagation通过敏化从故障位到PO或scan cell的path，将产生的结果信号值或故障效应向前移动。

test patterns，有时被称为test vectors，是在测试过程期间放置在PI引脚上的一系列1s或0s。当应用test pattern时，ATE确定电路是否存在制造缺陷。

ATPG process的基础流程：

• 从user-selected故障集中选择故障。
• 创建pattern以control和observe故障。
• pattern是被仿真的故障以确定在good和faulty机制仿真之间时候存在差异。
• 如果目标故障被检测到，则保存pattern。
• 如果其他故障偶然也被检测到，这些故障也会被划分为detected。

Basic Scan Test Process

scan test的流程：

• 通过使用scan cells取代flip-flops来创建control和observation点。
• 将scan flops连接在一起创建扫描链。
• 利用这些扫描链，生成测试patterns：在指定节点（control）设置指定值；传播结果，为了它能够被测试到（observe）。