DRAM的各路IDD,一文详细捋清楚

DRAM有很多的IDD,分别是什么,具体代表何种含义,具体又有什么作用呢。
本文以DDR5的IDD定义当作参考:特注:所有以下IDD,都有同等的IDDQ跟IPP。意义相同,只是吃电流的power source不同

IDD0: ACT+PRE Current

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IDD0基本代表着打开跟关闭wordline的电流消耗。用它来评估wordline打开跟关闭是否正常

IDD2N: Prechange Standby Current

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IDD2N基本代表DRAM idle时候的电流消耗,此时DRAM未进入任何mode,只是处于idle. tCK仍在跑,DQ/CA等input buffer keep打开。
基本用来评估静态功耗的。这部分基本由两部分组成,一个是device本身的leakage,一个是电路里面的设计部分对一些idle的时候有没有做特殊的gating处理

IDD2P:Precharge Power-Down mode Current

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所谓precharge powerdown mode,也就是wordline没有打开,所有bank处于idle的时候进入的powerdown mode.这个时候的power,基本有一部分是可以断电跟clock gating了。这部分如果不同厂家有差别,只能说是内部电路处理上的差异。特别是IDD2N跟IDD2P的差值

IDD3N: Active Standby Current

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所谓active standy,是针对IDD2N的precharge standby 而言的。所谓precharge standby,就是值得bank idle, 那么active standby指的是bank不idle,bank的wordline有被打开,打开之后的电流消耗,这部分其实就是为了评估打开wordline的过程对电流的消耗部分

IDD3P: Active Powerdown Current

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顾名思义,就是active了wordline之后进入powerdown mode,这种操作是被允许的,只要别在powerdown里面呆的时间太长,导致long-tRAS时间不满足就行。tRAS时间太长了,wordline的电位可能会慢慢衰减,导致潜在的data丢失风险。

IDD4R/IDD4W: burst read/write Current

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这个地方的测试pattern是seamless write/read,用来模拟最busy的情况下,DQ连续翻转的case下的电流消耗

IDD5B: Burst Refresh Current

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严格意义来讲,这种pattern sequence是不满足spec要求的。spec要求最多只能连续8笔REF command可以以tRFC的时间间隔来发送。但是IDD5B的sequence,是一直以tRFC的间隔来发送REF command.这个是一个很worse的condition来评估refresh带来的功耗。但是也能间接的来看refresh带来的潜在的电流消耗可能存在的风险。

IDD6N:self-refresh current

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之前的文章介绍过了。一种低功耗模式下的电流消耗。这部分的电流消耗基本是内部refresh操作带来的。不信你看,外部的clock都off了。

IDD8: MPSM Deep Powerdown Current

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其实这个MPSM mode总感觉很鸡肋。不过DDR5在DDR4的基础上做了完善。鸡肋的原因是MPSM断电断的太多,又不能保证retention,退出又太麻烦,时间太长。频繁进出不划算,不频繁进出又有retention风险。
不过DDR5进行了完善,可以在MPSM里面进入Powerdown或者SR.目前不确定真实系统有多少会考虑MPSM,截至目前,不太有了解到有系统会采用这个feature
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一般通过IDD来做分析的时候,会结合IDD/IDDQ来做,并对不同的IDD的分类做加减combine来得到更多的信息。在DDR5上,DIMM上引入了PMIC,所以IDD的潜在的constrain是PMIC是否能扛得住。有时候的过载会触发PMIC的保护预警机制,或者PMIC的response无法抗住太大的power loading,这些潜在的风险也会导致问题极度难以debug跟分析。DRAM的IDD是各家的竞争力的重要参数,对于服务器,功耗太大会导致风扇的问题,还有电费的问题,对于消费类电子,直接影响到续航能力。

### DRAM IDD 功耗与 MOSFET 阈值电压 (VT) 的关系 DRAM 的动态功耗(IDD)主要由其内部电路的操作决定,而这些操作依赖于 MOSFET 的性能特性。MOSFET 是一种电压控制型器件,通过改变阈值电压 \( V_T \),可以显著影响整个芯片的功耗和性能。 #### 1. 阈值电压对漏电流的影响 较低的阈值电压会增加亚阈值泄漏电流,从而提高静态功耗。这是因为当 \( V_T \) 较低时,即使栅极电压接近零,也会有较大的漏电流流过晶体管[^1]。对于 DRAM 而言,这种效应尤其重要,因为存储单元中的电容器需要定期刷新以补偿数据丢失,而较高的泄漏电流会导致更频繁的刷新周期,进而提升整体功耗。 #### 2. 工作频率与动态功耗的关系 动态功耗通常可以用公式表示为: \[ P_{dynamic} = C \cdot V^2 \cdot f \] 其中 \( C \) 表示负载电容,\( V \) 是供电电压,\( f \) 则代表工作频率。如果降低 \( V_T \),虽然能够减少驱动信号所需的延迟时间并允许更高的运行速度,但由于更大的开关活动以及伴随而来的大规模充放电过程,这同样可能引起功率消耗上升。 #### 3. 温度敏感性和可靠性考量 随着温度升高,半导体材料本身的电阻率会发生变化,进一步加剧了由于低 \( V_T \) 带来的额外泄露问题。因此,在设计阶段就必须考虑到实际应用环境下的最坏情况条件,并采取相应措施来缓解这些问题,比如优化偏置网络或者引入自适应体偏压技术等方法来动态调整有效 \( V_T \)[^1]。 ```python def calculate_dynamic_power(capacitance, voltage, frequency): """ Calculate dynamic power based on capacitance, supply voltage and operating frequency. Parameters: capacitance (float): Load capacitance in Farads. voltage (float): Supply voltage in Volts. frequency (float): Operating frequency in Hertz. Returns: float: Dynamic Power dissipation in Watts. """ return capacitance * pow(voltage, 2) * frequency ``` 上述函数展示了如何基于给定参数计算动态功耗的一个简单例子。 ---
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