基于DFT的谱分析

基于DFT的谱分析(参考实验)

问题分析

1.序列直接做DFT和补零做DFT有什么区别?
2.什么是频域的物理分辨率,什么是频域的分析分辨率?
3.为什么说补零作DFT只能提高频域的分析分辨率而不能提高物理分辨率?
4.为什么说提高频域的物理分辨率的唯一办法是增加记录长度?
5.当对有限长的序列做DFT时
【1】加窗与不加窗有什么区别?
【2】加不同形状的窗再做DFT,又有什么区别?
【3】我怎么知道在某个情况下应该选择那种窗函数?
频谱泄露的仿真代码;
N = 64 ; % vector length(N为信号采样的长度)
idx = [0:N-1].' ; % index column vector
f0 = 1E3 ; % sine signal freq, in Hz(f0为正弦频率)
fs = 32E3 ; % sample rate, in Hz(fs为采样频率)
x1 = sin(2*pi*f0/fs*idx); % sampled sine signal
figure ; % open new figure
subplot(2,2,1:2) ;
set(gca,'fontsize',14) ;
stem(x1) ; % plot(x1)
grid on ; % draw grid on figure
title1_str = sprintf(...
'Sampled Sine Signal, Frequency %dHz, Sample rate %dHz', f0,

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