反相器
- 速度受 R o n R_{on} Ron和 C l o a d C_{load} Cload限制
- C l o a d C_{load} Cload依赖于扇出、扇入
延时
- t r : 上 升 时 间 t_r:上升时间 tr:上升时间
- t f : 下 降 时 间 t_f:下降时间 tf:下降时间
- t p L H : 上 升 延 迟 t_{pLH}:上升延迟 tpLH:上升延迟
- t p H L : 下 降 延 迟 t_{pHL}:下降延迟 tpHL:下降延迟
- t p : 传 输 延 迟 , t p = ( t p L H + t p H L ) 2 t_p:传输延迟,t_p={(t_{pLH}+t_{pHL}) \over 2} tp:传输延迟,tp=2(tpLH+tpHL)
- t c d L H : 上 升 污 染 延 迟 t_{cdLH}:上升污染延迟 tcdLH:上升污染延迟
- t c d H L : 下 降 污 染 延 迟 t_{cdHL}:下降污染延迟 tcdHL:下降污染延迟
- t c d : 污 染 延 迟 , t c d = ( t c d L H + t c d H L ) 2 t_{cd}:污染延迟,t_{cd}={(t_{cdLH}+t_{cdHL}) \over 2} tcd:污染延迟,tcd=2(tcdLH+tcdHL)
米勒效应和电容归一化
负载电容 C l o a d C_{load} Cload
t
p
≈
0.69
R
e
q
(
C
i
n
t
+
C
e
x
t
)
≈
0.69
R
e
q
C
i
n
t
(
1
+
C
e
x
t
C
i
n
t
)
t_p\approx0.69R_{eq}(C_{int}+C_{ext})\approx0.69R_{eq}C_{int}(1+{C_{ext} \over C_{int}})
tp≈0.69Req(Cint+Cext)≈0.69ReqCint(1+CintCext)
S = W p m o s W n m o s , C i n t = S C r e f = γ C g , R e q = R r e f / S , f = C e x t C g S={W_{pmos} \over {W_{nmos}}},C_{int}=SC_{ref}=\gamma C_g,R_{eq}=R_{ref}/S,f={C_{ext} \over C_g} S=WnmosWpmos,Cint=SCref=γCg,Req=Rref/S,f=CgCext
t p ≈ 0.69 R e q C i n t ( 1 + C e x t S C r e f ) ≈ t p 0 ( 1 + C e x t S C r e f ) ≈ t p 0 ( 1 + C e x t γ C g ) ≈ t p 0 ( 1 + f γ ) t_p\approx0.69R_{eq}C_{int}(1+{C_{ext} \over SC_{ref}})\approx t_{p0}(1+{C_{ext} \over SC_{ref}})\approx t_{p0}(1+{C_{ext} \over \gamma C_{g}})\approx t_{p0}(1+ {f \over \gamma}) tp≈0.69ReqCint(1+SCrefCext)≈tp0(1+SCrefCext)≈tp0(1+γCgCext)≈tp0(1+γf)
- C i n t : 固 有 电 容 C_{int}:固有电容 Cint:固有电容
- C e x t : 外 部 电 容 , 包 括 扇 出 和 连 线 等 C_{ext}:外部电容,包括扇出和连线等 Cext:外部电容,包括扇出和连线等
- R r e f , C r e f : 单 元 尺 寸 的 电 阻 , 电 容 R_{ref},C_{ref}:单元尺寸的电阻,电容 Rref,Cref:单元尺寸的电阻,电容
- C g : 栅 极 电 容 C_g:栅极电容 Cg:栅极电容
- S : 尺 寸 因 子 S:尺寸因子 S:尺寸因子
- γ : 依 赖 于 工 艺 , ≈ 1 \gamma:依赖于工艺,\approx1 γ:依赖于工艺,≈1
- f : 扇 出 f:扇出 f:扇出
- t p 0 : 固 有 延 迟 t_{p0}:固有延迟 tp0:固有延迟
- S ↑ , t p ↓ ( g o o d ) , C i n t ↑ ( b a d ) S\uarr,t_p\darr(good),C_{int}\uarr(bad) S↑,tp↓(good),Cint↑(bad)
N个反相器链的电容延迟优化
等效电阻 R e q R_{eq} Req
- W ↑ , I D S A T n ↑ , R e q ↓ W\uarr,I_{DSATn}\uarr,R_{eq}\darr W↑,IDSATn↑,Req↓
- L ↓ , I D S A T n ↓ , R e q ↑ L\darr,I_{DSATn}\darr,R_{eq}\uarr L↓,IDSATn↓,Req↑
- V D D → V t , I D S A T n ↓ , R e q ↑ V_{DD}\rarr{V_t},I_{DSATn}\darr,R_{eq}\uarr VDD→Vt,IDSATn↓,Req↑
降低传播延迟 r p r_p rp
- V D D ↑ , t p ↓ , f ↑ : 提 高 V D D 可 以 提 高 电 路 工 作 频 率 , 但 会 增 加 功 耗 V_{DD}\uarr,t_p\darr,f\uarr:提高V_{DD}可以提高电路工作频率,但会增加功耗 VDD↑,tp↓,f↑:提高VDD可以提高电路工作频率,但会增加功耗
- C L ↓ : 降 低 扇 出 , 优 化 互 联 C_L\darr:降低扇出,优化互联 CL↓:降低扇出,优化互联
- W L ↑ {W \over L}\uarr LW↑
-
T
↓
,
μ
↑
:
降
低
温
度
,
提
高
载
流
子
迁
移
率
T\darr,\mu \uarr:降低温度,提高载流子迁移率
T↓,μ↑:降低温度,提高载流子迁移率
- 通 过 调 整 p m o s 和 n m o s 的 W L 可 以 获 得 对 称 的 V T C 和 m i n ( t p ) 通过调整pmos和nmos的{W \over L}可以获得对称的VTC和min(t_p) 通过调整pmos和nmos的LW可以获得对称的VTC和min(tp)