基于 Zynq-7020 的 XADC 通讯查询电压

基于 Zynq-7020 的 XADC 调试技术方案

概要

本文介绍基于 Zynq-7020 平台的 XADC 模块调试与应用技术方案。XADC（eXtended Analog-to-Digital Converter）是 Xilinx FPGA 系列中集成的多通道模数转换器，支持多种模拟输入模式及温度、电压等参数监控。通过对 XADC 的配置和调试，可实现高精度数据采集、实时监控与硬件系统性能评估等功能，广泛适用于嵌入式系统的信号处理与健康管理。

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整体架构流程

系统组成

1. Zynq-7020 FPGA
   作为系统主控单元，负责对 XADC 模块的初始化、配置及数据采集。
   同时使用其 ARM 处理器端（PS）进行结果存储、分析与通信输出。

2. XADC 模块

   • 提供 12 位分辨率，最高 1 MSPS 的采样速率。
   • 支持单端输入、差分输入及片上监控功能。

3. 外部模拟输入接口

   • 通过适配电路将外部信号引入 XADC，适配电压范围（0~1V）并抑制噪声干扰。

4. 调试与监控模块

   • 基于 ARM 的 UART 或网络接口，实现采样结果的实时输出与配置参数的在线调整。

工作流程

1. 初始化
   通过 FPGA PL 逻辑对 XADC 核心模块进行初始化，包括启用通道、配置采样时钟及参考电压源。

2. 数据采集
   配置自动或手动采样模式，依次采集各通道输入信号，并将数据传输到 PS 端。

3. 数据处理与分析
   ARM 端接收采样数据并实时处理，可对温度、电压等监控结果进行动态显示或存储。

4. 结果输出与反馈
   通过调试接口将处理结果传输至 PC 或显示设备，支持对 XADC 参数进行动态调整。

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技术名词解释

1. XADC

   • Xilinx 片上集成的扩展模数转换器，支持片内和片外模拟信号采样。
   • 提供 17 个通道（包括内部传感器），并支持多个工作模式。

2. PS/PL

   • PS（Processing System）：Zynq 的 ARM 处理器部分，负责运行软件程序及系统交互。
   • PL（Programmable Logic）：FPGA 可编程逻辑部分，执行高速逻辑运算与数据流控制。

3. 单端/差分输入

   • 单端输入：信号电压相对参考地采样。
   • 差分输入：通过信号正负差值采样，增强抗干扰能力。

4. 参考电压

   • XADC 通过片内或外部参考电压定义采样范围（默认 0~1V）。

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技术细节

1. XADC 配置与初始化

• 启用模式
  配置 XADC 工作模式为连续采样模式或触发模式，启用所需的采样通道。
• 采样时钟
  使用片内锁相环 (PLL) 提供稳定的采样时钟，保证数据精度。
• 参考电压源
  选择内部 1.25V 基准电压，或通过外部高精度电压源提高测量稳定性。

2. 数据采集与传输

• 采样逻辑
  通过 PL 的 AXI 接口从 XADC 获取采样数据，并缓存到内部 FIFO。
• 数据传输
  使用 AXI DMA 或直接内存访问，将数据传输至 PS 端进行处理。

3. 信号调理电路设计

• 输入信号调理
  为避免采样过载，外部信号通过分压与滤波电路将电压范围调节至 0~1V。
• 抗干扰设计
  差分输入接口配合屏蔽电缆设计，提高信号采样精度。

4. 数据处理与分析

• ARM 程序设计
  ARM 端通过 Zynq 的 SDK 运行应用程序，实现数据接收、解析及反馈。
• 调试与监控
  数据处理结果通过 UART 或网络传输至上位机，实时显示采样波形及监控结果。

5. 调试与优化

• 采样通道校准
  对 XADC 通道进行偏移与增益校准，消除测量误差。
• 时钟优化
  调整采样时钟频率，以满足不同输入信号的带宽需求。

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小结

基于 Zynq-7020 的 XADC 调试技术方案，充分利用了 XADC 的高精度模数转换能力与 Zynq 平台的硬件/软件协同特性。系统具有以下优势：

1. 高采样精度与速度
   XADC 提供 12 位分辨率和高达 1 MSPS 的采样速率，适用于多种高速信号采集场景。

2. 灵活配置与控制
   通过 FPGA 实现多通道输入管理和实时采样调节，满足复杂的应用需求。

3. 强扩展性
   支持用户自定义的信号处理与调试接口，便于二次开发与部署。

增加 SDK 驱动代码实现 部分

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SDK 驱动实现与代码示例

以下是基于 Xilinx SDK/Vitis 的 XADC 配置与调试代码示例，演示如何通过 XADC 驱动库进行初始化、采样与数据传输。

1. 硬件前提

在 Vivado 工程中完成以下配置：

1. 添加 XADC 模块，启用 Dynamic Reconfiguration Port (DRP) 功能。
2. 将模拟输入通道 (VP/VN 或 AUX) 连接到硬件采样接口。
3. 生成硬件描述文件 (HDF/XSA) 并导入到 SDK/Vitis。

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2. SDK 驱动代码

XADC 初始化

#include "xparameters.h"
#include "xsysmon.h"
#include "xil_printf.h"

// 定义 XADC 设备实例
XSysMon xadc_inst;

// 初始化 XADC
int XADC_Init() {
    int status;
    XSysMon_Config *config;

    // 获取 XADC 配置
    config = XSysMon_LookupConfig(XPAR_SYSMON_0_DEVICE_ID);
    if (config == NULL) {
        xil_printf("XADC configuration not found.\n");
        return XST_FAILURE;
    }

    // 初始化 XADC
    status = XSysMon_CfgInitialize(&xadc_inst, config, config->BaseAddress);
    if (status != XST_SUCCESS) {
        xil_printf("XADC initialization failed.\n");
        return status;
    }

    // 配置采样模式
    XSysMon_SetSequencerMode(&xadc_inst, XSM_SEQ_MODE_CONTINPASS);  // 连续采样模式

    xil_printf("XADC initialized successfully.\n");
    return XST_SUCCESS;
}

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采样数据读取

以下代码展示如何读取温度、VCCINT 电压及 AUX0 模拟通道的采样值。

void XADC_ReadData() {
    float temperature, vccint, aux_data;

    // 读取片上温度
    temperature = XSysMon_GetTemperature(&xadc_inst);
    xil_printf("Temperature: %.2f C\n", temperature);

    // 读取 VCCINT 电压
    vccint = XSysMon_GetAdcData(&xadc_inst, XSM_CH_VCCINT) * XSYSMON_VCCINT_SCALE;
    xil_printf("VCCINT Voltage: %.2f V\n", vccint);

    // 读取 AUX0 通道数据
    aux_data = XSysMon_GetAdcData(&xadc_inst, XSM_CH_AUX_MIN + 0) * XSYSMON_AUX_SCALE;
    xil_printf("AUX0 Voltage: %.2f V\n", aux_data);
}

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连续采样与动态配置

通过以下代码动态配置通道和连续读取数据。

void XADC_ContinuousSampling() {
    u32 data_raw;
    float voltage;

    // 启用 AUX0 通道采样
    XSysMon_SetSingleChParams(&xadc_inst, XSM_CH_AUX_MIN + 0, TRUE);

    xil_printf("Starting continuous sampling...\n");

    while (1) {
        // 获取 AUX0 原始数据并转换为电压值
        data_raw = XSysMon_GetAdcData(&xadc_inst, XSM_CH_AUX_MIN + 0);
        voltage = data_raw * XSYSMON_AUX_SCALE;
        xil_printf("AUX0 Voltage: %.2f V\n", voltage);

        // 模拟采样间隔
        for (int i = 0; i < 1000000; i++);
    }
}

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完整代码

以下为完整的 XADC 调试代码示例：

#include "xparameters.h"
#include "xsysmon.h"
#include "xil_printf.h"

XSysMon xadc_inst;

int main() {
    int status;

    xil_printf("Initializing XADC...\n");

    // 初始化 XADC
    status = XADC_Init();
    if (status != XST_SUCCESS) {
        xil_printf("XADC Initialization failed.\n");
        return -1;
    }

    // 连续采样测试
    XADC_ContinuousSampling();

    return 0;
}

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3. 代码要点说明

1. XADC 通道配置
   XADC 支持多通道采样，需通过 XSysMon_SetSingleChParams 启用具体的采样通道。

2. 电压范围限制
   外部输入信号需通过分压电路调整至 0~1V 范围，否则可能导致数据溢出。

3. 调试与优化

   • 使用内部温度传感器或电压监控功能验证 XADC 是否正常工作。
   • 在实际应用中，通过软件校准提高测量精度。

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通过上述代码与技术方案，可快速完成基于 Zynq-7020 的 XADC 调试工作，实现高精度数据采集与监控。