MTK 驱动（71）---DDR进行bitflip压力测试

 DDR进行bitflip压力测试

 

 1 DDR 压力测试

时常有ddr的bitflip问题，需要一些方法对ddr进行压测

 

  2. 方法 

 

 1. 使用MTK flashtool的memorytest功能，目前只支持6755（含）之后的平台，如果不支持的话，flashtool会自动隐藏test选项。

     使用说明：

    默认是Auto, 可以手动选择到Manual.

        参数范围：  

             Address:                                 test起始地址，[ 0 – dram.size )

             Length:                                    test 长度，          [ 0 – dram.size ],   // length =0时，test “address  -- dram. end”;  length!=0时， test “address -- address + length”；如用户只知道测试的起始地址，直到dram尾部都要测，这样填0就可以了，不用再去计算length.

 

             Stress Test Count:              压力测试次数，32位无符号整数的有效范围

            限制条件：                          Address + Length 不能超过DRAM size大小。

 

               测试步长是flashtool UI控制的，根据输入Length大小分阶梯控制步长，主要影响UI显示时候反馈内容的数量。

        步长的设计如下：       

Length 测试长度	Test_step 测试步长
>2MB	= 2MB
1KB – 2MB	1KB
<1KB	1Byte

 2. 在preloader或者lk中进行测试  (preloader 只能定址32bit, 超过3GB需要在有mmu的lk作 ，因physical addr :0x40000000~0xFFFFFFFF 为3GB大小)

     preloader：

 

      lk: complex_mem_test_lk的内容和preloader原生的内容一致；

      如果要通过code实现，建议在lk实现，可以进行大于4G ddr测试。

 

 

注意事项:

 

测试地址需避开其他模块reserved的memory , 否则可能每次会在固定地址范围测试fail （如下图）

 

reserved的memory 可以从下方法查到

方法1：

搜寻mblock_reserve_ext   API  所reserved 的地址空间

方法2：（推荐）

 

adb shell 命令

显示reserved memory list如下