氮化镓(GaN)是电力电子行业的一个热门话题,因为它可以实现80Plus钛电源、3.8 kW/L电动汽车(EV)车载充电器和电动汽车(EV)充电站等设计。在许多特定的应用中,GaN已经取代了传统的MOSFET晶体管,由于它能够驱动更高的功率密度和具有更高的效率。然而,由于GaN的电气特性和它所能达到的性能,使用GaN元件设计面临着与硅元件完全不同的挑战。
GaN场效应晶体管包括耗尽型(d-mode)、增强型(e-mode)和共源极型(共源共栅)三种类型,每种类型都有各自的栅极驱动和系统要求。
GaN场效应管的内部结构
每一个GaN电源开关都需要适当的栅极驱动,否则在测试过程中可能会发生意外。GaN器件具有极其灵敏的栅极,因为它们不是传统意义上的MOSFET,而是高电子迁移率晶体管(HE MT)。高电子迁移率晶体管的横截面,类似于MOSFET。GaN FET的电流并不流经整个衬底或缓冲层,而是流经一个二维电子气层。
栅极控制不当可能导致GaN FET的绝缘层、阻挡层或其他结构部件的击穿。这不仅会导致GaN FET在相应的系统条件下无法工作,而且会对器件本身造成永久性的损坏。这种级别的灵敏度要求用户仔细检查不同类型GaN器件的特性及其广泛的需求。HE MT也没有传统的掺杂FET结构,它形成PN结,形成体二极管。这也意味着没有内部二极管,以打破或创建不必要的过程,如在操作过程中的反向恢复。