DFT 中 boundary scan详解

## 一、Boundary Scan的基本概念
1. **定义**
   - Boundary scan是一种用于测试集成电路（IC）内部连接和功能的技术。它在芯片的输入/输出（I/O）引脚周围添加了一系列的边界扫描单元（Boundary - Scan Cells，BSC），这些单元连接成一个移位寄存器链，形成所谓的边界扫描链。
   - 这个边界扫描链可以通过专门的测试接口（如JTAG接口）进行控制和操作。例如，在一个复杂的电路板上，有多个芯片通过印刷电路板（PCB）走线相互连接，边界扫描技术可以检测芯片之间以及芯片内部的连接是否正确。
2. **起源与发展**
   - 随着集成电路的复杂度不断提高，传统的测试方法难以满足对芯片内部逻辑和连接性的测试需求。为了解决这个问题，边界扫描技术应运而生。
   - 它最初是由联合测试行动小组（Joint Test Action Group，JTAG）提出的，后来被标准化为IEEE 1149.1标准。这个标准的制定使得不同厂商的芯片在测试接口和操作方式上具有了兼容性，大大方便了电子系统的测试和维护。

## 二、Boundary Scan的结构
1. **边界扫描单元（BSC）**
   - **功能结构**
     - 边界扫描单元是边界扫描技术的基本构建块。每个BSC位于芯片的I/O引脚附近，它具有多种功能模式。在正常工作模式下，它允许信号正常地通过I/O引脚进行输入或输出操作，就像普通的I/O缓冲器一样。
     - 在测试模式下，它可以捕获I/O引脚上的数据（对于输入引脚）或者将数据驱动到I/O引脚上（对于输出引脚）。例