DFT(design for test）

最新推荐文章于 2024-07-29 16:08:34 发布
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分类专栏： verilog
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DFT:全称是 Design for Test，可测性设计，通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，从而使芯片变得容易测试，大幅度节省芯片测试的成本。
(随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个方面：一个是可控制性，即为了能够检测出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加测试向量；另外一个是可观测性，指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到)

三种常见的可测性技术(Design for Test)

  • 扫描路径设计(Scan Design)
    扫描路径法是一种针对时序电路芯片的DFT方案.其基本原理是时序电路可以模型化为一个组合电路网络和带触发器（Flip-Flop，简称FF）的时序电路网络的反馈。
  • 内建自测试(BIST)
    内建自测试(BIST)设计技术通过在芯片的设计中加入一些额外的自测试电路，测试时只需要从外部施加必要的控制信号，通过运行内建的自测试硬件和软件，检查被测电路的缺陷或故障。和扫描设计不同的是，内建自测试的测试向量一般是内部生成的，而不是外部输入的。内建自测试可以简化测试步骤，而且无需昂贵的测试仪器和设备（如ATE设备），但它增加了芯片设计的复杂性。
  • 边界扫描测试(Boundary Scan Test)
    为了对电路板级的逻辑和连接进行测试，工业界和学术界提出了一种边界扫描的设计，边界扫描主要是指对芯片管脚与核心逻辑之间的连接进行扫描。数字信号处理DFT(Discrete Fourier Transform)　x(n)经过截断后[根据谱分辨率要求截断多长]，为有限长的序列，DFT的结果是有限长的，正好是对该有限长序列连续谱[DTFT]的在0~2pi上的等间隔采样，适合于计算机处理；而DFT又有FFT快速傅里叶变换算法，因此在各领域中得以广泛应用。当然截断带来截断效应。

JTAG:用一组特别的测试端口来控制扫描操作，这组端口被称为JTAG
1、在Intro_Top中加入JTAG测试端口，加入5个1比特端口，先不连接它们，这5个端口分别是：ScanMode,ScanIn,ScanOut,ScanClr,ScanClk
2、在Intro_Top(顶层设计)中的每一个I/O路径都插入D触发器，但JTAG的I/O除外
在这里插入图片描述
3、在testbench里给ScanClk和ScanClr添加驱动，即赋值
以上即可简单实现扫描链，也简单呈现了扫描链的大致情况
4、加入多路选择器来去除所有的同步行为，一个ff寄存器上被加上了两个多路选择器
在这里插入图片描述

人无再少年97
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专栏目录
【Verilog基础】DFT（Design for Test）可测性设计的一些基础概念
悟已往之不谏 知来者之可追
08-05 2041
DFT（Design for Test）可测性设计的一些基础概念
Design-For-Test For Digital IC's and Embedded Core Systems
01-08
数字IC可测性设计的经典书籍，适合IC设计的研究生，博士生和工程师。
DFT(Design for Test)
weixin_30815427的博客
03-24 1088
1、避免异步反馈； 2、移除竞争冒险； 3、分割大计数器； 4、利用空闲的引脚来增加内部电路节点的可控制性和可观测性（controllability and observability)； 5、使电路可以初始化到一个已知状态； 6、Use scan testing where appropriate on register elements that are clocked o...
离散傅里叶变换（DFT）和快速傅里叶变换（FFT）
最新发布
weixin_52734695的博客
07-29 611
离散傅里叶变换（DFT）和快速傅里叶变换（FFT）是信号处理和数字信号处理中的基本工具。它们用于将时间域的信号转换为频率域的表示，帮助分析信号的频谱成分。DFT是将离散时间信号转换为频域表示的工具。通过递归地应用这种分解，可以大幅减少计算量。卷积计算： 利用FFT快速计算大规模卷积。滤波器设计： 快速设计和实现数字滤波器。频谱分析： 用于分析信号的频率成分。音频处理： 如音频压缩、增强和特效。x[n] 是时间域信号的第。X[k] 是频域信号的第。N 是信号的总样本数。1.3 DFT的性质。
芯片资深IC设计工程师面经系列（六）DFT设计
weixin_47349046的博客
11-15 563
3.Scan test 扫描测试（ATPG）:主要包括管脚scan_clk，scan_rst，scan_mode，sin，so等信号。DFT的全称是 Design For Test，每个芯片必不可少，虽然一般会配备专业的DFT人员，对于前端工程师也需要配合DFT工程师进行DFT设计。at-speed 就是实速测试， 主要用于 scan 测试－即 AC 测试和 mbist 测试。4.全速测试 at-speed-test（其实是属于扫描测试的一种。由芯片内部的 PLL 产生很快的测试时钟，用于实速测试。
芯片设计中，DFT岗位是什么体验？
weixin_52955333的博客
08-30 865
提到DFT， 大部分人想到的应该是离散傅里叶变换（Discrete Fourier Transform，缩写为DFT），笔者大学被信号与系统这门课虐的不轻。但是在IC界，DFT的全称是 Design For Test。指的是在芯片原始设计中阶段即插入各种用于提高芯片可测试性（包括可控制性和可观测性）的硬件逻辑，通过这部分逻辑，生成测试向量，达到测试大规模芯片的目的。Design–实现特定的辅助性设计，但要增加一定的硬件开销。
Design For Test
04-09
英文原版教材， 对软件测试很有帮助
design for test 基础知识
weixin_38413739的博客
06-18 919
通过在芯片中嵌入专门的测试电路和逻辑，MBIST技术可以自动生成和执行存储器的测试模式，以检测和诊断存储器单元中的故障。选择合适的故障覆盖率指标和相应的测试策略，可以提高测试的全面性和准确性，从而增强电路的可靠性和可测试性。故障覆盖率是衡量测试质量和测试效果的一个重要指标，它表示在测试过程中成功检测到的故障占总故障数的比例。通过遵循这些原则，可以减少测试的难度和成本，提高测试覆盖率，并确保设计的可靠性和稳定性。同时，隔离性还可以减少测试过程中可能引入的不必要的故障和干扰，提高测试的效率和可重复性。
DFT（Design For Test）
网始如芯个人博客
01-13 2635
DFT
【PCB专题】可测试性设计（Design for Test）
一点硬件
06-24 695
对于设计工程师来说，设计一块 PCB 需要经过许多步骤和个版本的迭代，付出大量的时间和工作。如果能在设计周期的早期阶段实施适当的可测试性设计 (DFT)，那会有助于我们项目成功。
[转] DFT--Design For Test
qq_35618306的博客
09-03 1622
转载自：https://www.jianshu.com/p/737dd92fe81d 一、DFT概念：可测试性设计 **狭义理解：**是指在芯片开发中的前端设计里增加为后期的ATE测试所准备的测试逻辑。 用于控制或产生测试向量，达到自动测试的目的。 **广义理解：**不仅包括为自动化测试所设计的测试逻辑 ，还涵盖了测试向量的产生，测试结果的分析等。 二、DFT存在的意义 筛选出出错的芯片：open/break 定位错误位置 提高工艺， 提高良率。 故：不能实现质量的100%。 三、功能性测试 pk
简述有效提高DFT设计测试覆盖率的方法
10-22
随着电子电路集成度的提高，电路愈加复杂，要完成一个电路的测试所需要的人力和时间也变得非常巨大。为了节省测试时间，除了采用先进的测试方法外，另外一个方法就是提高设计本身的可测试性。其中，可测试性包括两个方面：一个是可控制性，即为了能够检测出目的故障（fault）或缺陷（defect），可否方便的施加测试向量；另外一个是可观测性，指的是对电路系统的测试结果是否容易被观测到。在集成电路（Integrated Circuit,简称IC）进入超大规模集成电路时代，可测试性设计（Design for Test,简称DFT）是电路和芯片设计的重要环节，它通过在芯片原始设计中插入各种用于提高芯片可测试性（包括
design for test 基础
05-29
基本的DFT知识，入门用. 中文版，描述简单，明了，非图片
DFT Compiler RTL Test Design Rule Checking User Guide
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DFT Compiler RTL Test Design Rule Checking User Guide 本用户指南旨在帮助用户熟悉 DFT Compiler RTL Test Design Rule Checking 工具的使用。该工具是一款功能强大且灵活的设计规则检查工具，旨在帮助用户确保...
Design for test
03-22
Design for Test (DFT) Design for Test (DFT) 是一种在数字IC和嵌入式核心系统设计中，旨在提高可测试性的设计方法。该方法通过在设计阶段考虑测试问题，降低了测试的难度和成本，从而提高了产品的可靠性和质量。 ...
Design-For-Test Seminar
07-07
这涉及到Design-For-Test（DFT）的概念及其在集成电路（IC）设计中的应用。以下是对该主题的详细解析： ### 设计测试的基础 #### 核心概念与重要性 Design-For-Test（DFT）是一种设计策略，旨在提高集成电路的可...
ASIC--DFT可测性设计工程师
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03-09 2万+
DFT是什么？ DFT是design for test（可测性设计）的缩写，就是在芯片设计过程中，加入可测性逻辑。有的公司把该职位归到前端设计，有的归到中端实现。 DFT职位大多分布于规模较大的数字IC设计公司里，因为大公司对芯片品质要求高，而且规模越大，芯片越贵，DFT就越复杂越重要。DFT主要是通过在芯片中加入可测性逻辑，等芯片制造出来，在ATE（AutomaticTestEquipmen...
DFT学习笔记（一）|DFT是什么？
qq_28455081的博客
05-29 3623
DFT是Design For Test的缩写。指在芯片设计过程中引入测试逻辑，并利用这部分测试逻辑完成测试向量的自动生产，从而达到快速有效的芯片测试的目的。DFT分功能测试和制造测试，功能测试主要寻找设计上可能存在的错误，用来验证电路中的逻辑行为；制造测试用于寻找在制造过程中可能存在的制造缺陷（开路、短路等）。DFT是为了使制造测试尽可能简单，覆盖率尽可能高，而在电路中加入一些特殊逻辑的设计方法。
什么是design for test
03-30
Design for test (DFT)是一种设计方法，用于确保芯片或系统设计的可测试性和可靠性。它包括在设计阶段考虑测试和诊断的需要，以便在制造和运营过程中能够进行有效的测试和故障排除。具体来说，DFT包括添加测试电路、测试点和测试模式，以便可以检测和诊断芯片中的故障。通过使用DFT，可以减少产品制造和维修的成本，提高产品质量和可靠性。
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