BIST测试SRAM时要必须保证对所有端口可控

BIST测试SRAM时要必须保证对所有端口可控

一个正常的SRAM一般包含如下几类端口

Clock(Read/Write Clock)
Chip Select(Chip Enable)
Data (Input Data / Output Data)
Write Enable / Read Enable
Test Port
Bypass Enable

不同的工艺厂商给出的SRAM不一定都含有上述的端口。有些SRAM可能不包含Test Port 和 Bypass Enable。

在BIST对SRAM进行测试的时候，由于SRAM的每个端口都有特定的含义，所以，

必须要保证SRAM的所有端口都可以被BIST电路控制。