DFT（Design for Testability）已发展为DFX，涵盖Test、Debug和Manufactory方面。主要测试内容包括DC Scan、AC Scan、Transition fault和Path delay fault。DC Scan测试stuck-at故障，AC Scan关注时序测试。Memory BIST用于内存功能验证，Memory Repair通过预留单元替换坏块。在芯片设计中，需平衡成本和良率，考虑Memory Repair功能的引入。
DFT现在已经演进成DFX（X包括：T，D，M）
T： Test
D：Debug，CPU2JTAG, JTAG2CPU,
M：Manufactory，PVT Monitor
DFT的主要测试包括四大块。
DC Scan主要还是测试stuck-at相关的，不涉及timing相关的，测试的频率比较低。
AC Scan就是at speed测试。
Transition fault 和 Path delay fault 主要和Timing有关。
Scan Base和Logic base的区别在于，Scan base的激励产生和比较是在芯片外面，而Logic base，激励产生和比较电路都在芯片内部。
由于增加了Logic chain，所以，Routing的难度会增加。
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