关于晶圆

关于晶圆

晶圆,多指单晶硅圆片,由普通硅沙拉制提炼而成,是最常用的半导体材料,按其直径分为4英寸、5英寸、6英寸、8英寸等规格,近来发展出12英寸甚至更大规格。晶圆越大,同一圆片上可生产的IC就多,可降低成本;但要求材料技术和生产技术更高。


        硅是由沙子所精练出来的,晶圆便是硅元素加以纯化(99.999%),接着是将些纯硅制成硅晶棒,成为制造积体电路的石英半导体的材料,经过照相制版,研磨,抛光,切片等程序,将多晶硅融解拉出单晶硅晶棒,然后切割成一片一片薄薄的晶圆。我们会听到几寸的晶圆厂,如果硅晶圆的直径越大,代表著这座晶圆厂有较好的技术。另外还有scaling技术可以将电晶体与导线的尺寸缩小,这两种方式都可以在一片晶圆上,制作出更多的硅晶粒,提高品质与降低成本。所以这代表6寸、8寸、12寸晶圆当中,12寸晶圆有较高的产能。当然,生产晶圆的过程当中,良品率是很重要的条件。


        晶圆是指硅半导体积体电路制作所用的硅晶片,由于其形状为圆形,故称为晶圆;在硅晶片上可加工制作成各种电路元件结构,而成为有特定电性功能之IC产品。晶圆的原始材料是硅,而地壳表面有用之不竭的二氧化硅。二氧化硅矿石经由电弧炉提炼,盐酸氯化,并经蒸馏后,制成了高纯度的多晶硅,其纯度高达0.99999999999。晶圆制造厂再将此多晶硅融解,再于融液内掺入一小粒的硅晶体晶种,然后将其慢慢拉出,以形成圆柱状的单晶硅晶棒,由于硅晶棒是由一颗小晶粒在熔融态的硅原料中逐渐生成,此过程称为“长晶”。硅晶棒再经过研磨,抛光,切片后,即成为积体电路工厂的基本原料——硅晶圆片,这就是“晶圆”。


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半导体特有性质的发现
发表于 2007-9-25 15:46:06
顾名思义:导电性能介于导体与绝缘体(insulator)之间的材料,叫做半导体(semiconductor).


        物质存在的形式多种多样,固体、液体、气体、等离子体等等。我们通常把导电性和导电导热性差或不好的材料,如金刚石、人工晶体、琥珀、陶瓷等等,称为绝缘体。而把导电、导热都比较好的金属如金、银、铜、铁、锡、铝等称为导体。可以简单的把介于导体和绝缘体之间的材料称为半导体。与金属和绝缘体相比,半导体材料的发现是最晚的,直到20世纪30年代,当材料的提纯技术改进以后,半导体的存在才真正被学术界认可。


        半导体的发现实际上可以追溯到很久以前,


        1833年,英国巴拉迪最先发现硫化银的电阻随着温度的变化情况不同于一般金属,一般情况下,金属的电阻随温度升高而增加,但巴拉迪发现硫化银材料的电阻是随着温度的上升而降低。这是半导体现象的首次发现。不久,


        1839年法国的贝克莱尔发现半导体和电解质接触形成的结,在光照下会产生一个电压,这就是后来人们熟知的光生伏特效应,这是被发现的半导体的第二个特征。


        在1874年,德国的布劳恩观察到某些硫化物的电导与所加电场的方向有关,即它的导电有方向性,在它两端加一个正向电压,它是导通的;如果把电压极性反过来,它就不导电,这就是半导体的整流效应,也是半导体所特有的第三种特性。同年,舒斯特又发现了铜与氧化铜的整流效应。


        1873年,英国的史密斯发现硒晶体材料在光照下电导增加的光电导效应,这是半导体又一个特有的性质。


        半导体的这四个效应,(jianxia霍尔效应的余绩──四个伴生效应的发现)虽在1880年以前就先后被发现了,但半导体这个名词大概到1911年才被考尼白格和维斯首次使用。而总结出半导体的这四个特性一直到1947年12月才由贝尔实验室完成。很多人会疑问,为什么半导体被认可需要这么多年呢?主要原因是当时的材料不纯。没有好的材料,很多与材料相关的问题就难以说清楚。


        半导体于室温时电导率约在10ˉ10~10000/Ω·cm之间,纯净的半导体温度升高时电导率按指数上升。半导体材料有很多种,按化学成分可分为元素半导体和化合物半导体两大类。锗和硅是最常用的元素半导体;化合物半导体包括Ⅲ-Ⅴ 族化合物(砷化镓、磷化镓等)、Ⅱ-Ⅵ族化合物( 硫化镉、硫化锌等)、氧化物(锰、铬、铁、铜的氧化物),以及由Ⅲ-Ⅴ族化合物和Ⅱ-Ⅵ族化合物组成的固溶体(镓铝砷、镓砷磷等)。除上述晶态半导体外,还有非晶态的有机物半导体等。


        本征半导体(intrinsic semiconductor) 没有掺杂且无晶格缺陷的纯净半导体称为本征半导体。在绝对零度温度下,半导体的价带(valence band)是满带(见能带理论),受到光电注入或热激发后,价带中的部分电子会越过禁带(forbidden band/band gap)进入能量较高的空带,空带中存在电子后成为导带(conduction band),价带中缺少一个电子后形成一个带正电的空位,称为空穴(hole),导带中的电子和价带中的空穴合称为电子 - 空穴对。上述产生的电子和空穴均能自由移动,成为自由载流子(free carrier),它们在外电场作用下产生定向运动而形成宏观电流,分别称为电子导电和空穴导电。这种由于电子-空穴对的产生而形成的混合型导电称为本征导电。导带中的电子会落入空穴,使电子-空穴对消失,称为复合(recombination)。复合时产生的能量以电磁辐射(发射光子photon)或晶格热振动(发射声子phonon)的形式释放。在一定温度下,电子 - 空穴对的产生和复合同时存在并达到动态平衡,此时本征半导体具有一定的载流子浓度,从而具有一定的电导率。加热或光照会使半导体发生热激发或光激发,从而产生更多的电子 - 空穴对,这时载流子浓度增加,电导率增加。半导体热敏电阻和光敏电阻等半导体器件就是根据此原理制成的。常温下本征半导体的电导率较小,载流子浓度对温度变化敏感,所以很难对半导体特性进行控制,因此实际应用不多。


        杂质半导体(extrinsic semiconductor) 半导体中的杂质对电导率的影响非常大,本征半导体经过掺杂就形成杂质半导体,一般可分为n型半导体和p型半导体。半导体中掺入微量杂质时,杂质原子附近的周期势场受到干扰并形成附加的束缚状态,在禁带中产生附加的杂质能级。能提供电子载流子的杂质称为施主(donor)杂质,相应能级称为施主能级,位于禁带上方靠近导带底附近。例如四价元素锗或硅晶体中掺入五价元素磷、砷、锑等杂质原子时,杂质原子作为晶格的一分子,其五个价电子中有四个与周围的锗(或硅)原子形成共价键,多余的一个电子被束缚于杂质原子附近,产生类氢浅能级-施主能级。施主能级上的电子跃迁到导带所需能量比从价带激发到导带所需能量小得多,很易激发到导带成为电子载流子,因此对于掺入施主杂质的半导体,导电载流子主要是被激发到导带中的电子,属电子导电型,称为n型半导体。由于半导体中总是存在本征激发的电子空穴对,所以在n型半导体中电子是多数载流子,空穴是少数载流子。相应地,能提供空穴载流子的杂质称为受主(acceptor)杂质,相应能级称为受主能级,位于禁带下方靠近价带顶附近。例如在锗或硅晶体中掺入微量三价元素硼、铝、镓等杂质原子时,杂质原子与周围四个锗(或硅)原子形成共价结合时尚缺少一个电子,因而存在一个空位,与此空位相应的能量状态就是受主能级。由于受主能级靠近价带顶,价带中的电子很容易激发到受主能级上填补这个空位,使受主杂质原子成为负电中心。同时价带中由于电离出一个电子而留下一个空位,形成自由的空穴载流子,这一过程所需电离能比本征半导体情形下产生电子空穴对要小得多。因此这时空穴是多数载流子,杂质半导体主要靠空穴导电,即空穴导电型,称为p型半导体。在p型半导体中空穴是多数载流子,电子是少数载流子。在半导体器件的各种效应中,少数载流子常扮演重要角色。  

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### 回答1: 晶圆 wm-811k数据集是一种用于半导体制造和研究的数据集。它收集了大量晶圆的相关信息,包括晶圆的特性和生产过程中的各种参数。 该数据集的收集方式主要通过传感器和控制系统来获取晶圆的相关数据。这些数据包括晶圆的尺寸、形状、材料、厚度等物理特性,以及在制造过程中的温度、压力、气氛、薄膜的均匀性等工艺参数。 通过对晶圆 wm-811k数据集的分析,可以深入研究半导体制造中的各种问题和挑战。例如,可以分析晶圆尺寸与性能之间的关系,以优化晶圆的设计和制造过程。还可以研究不同工艺参数对晶圆品质的影响,从而改进制造流程并提高生产效率。 除此之外,晶圆 wm-811k数据集还可用于开发晶圆制造的机器学习和人工智能模型。通过对数据集进行训练和验证,可以建立晶圆制造的模型,以预测晶圆的性能和品质,从而提前发现和解决潜在的问题,减少不良品率并提高产品质量。 总的来说,晶圆 wm-811k数据集是一个有价值的资源,它为半导体制造和研究提供了丰富的数据,可以用于优化制造流程,提高产品质量,并为机器学习和人工智能的应用提供支持。 ### 回答2: 晶圆 wm-811k数据集是一个关于晶圆的数据集,它包含了与晶圆生产和测试相关的大量数据。 该数据集中的数据主要包括以下方面: 1. 晶圆生产数据:包括晶圆的制造过程中的工艺参数、设备状态和生产环境等信息。这些数据可以帮助分析师了解晶圆制造过程中的关键参数和影响因素,从而优化生产流程和提高产量和质量。 2. 晶圆测试数据:包括对晶圆进行测试时得到的各种电学、光学和物理性能的测量数据。这些数据可以用于分析晶圆的性能和质量,并判断是否符合质量标准。 3. 晶圆质量数据:包括晶圆的缺陷和瑕疵数据。这些数据可以帮助分析师检测晶圆的质量问题,并定位和解决生产过程中可能存在的缺陷源。 使用晶圆 wm-811k数据集可以进行很多方面的分析和研究,如生产工艺优化、晶圆质量控制、故障分析和预测等。通过对这些数据进行统计、模型建立和机器学习等方法的应用,可以从数据中挖掘出有关晶圆生产和测试的有用信息,以支持决策制定和质量管理。此外,通过对数据集进行可视化和数据挖掘,可以更直观地展现晶圆的生产过程和性能特征,从而帮助分析师更好地理解和分析晶圆相关问题。 总之,晶圆 wm-811k数据集是一个有价值的资源,对于研究和分析晶圆生产和测试具有重要的意义,有助于提高生产效率和产品质量。 ### 回答3: 晶圆WM-811K是一个广泛应用于半导体行业的数据集。晶圆是半导体制造过程中的一种材料,它通常由硅单晶制成,具有特殊的物理和电化学性质。WM-811K是该晶圆样品的编号,用于区分不同种类的晶圆晶圆WM-811K数据集是收集、整理和记录关于晶圆WM-811K的一系列数据的集合。这些数据主要用于半导体制造过程中的质量控制和品质管理。数据集中包含了各类晶圆WM-811K的特征信息、生产过程中的控制参数以及质量检测结果等数据。 通过分析晶圆WM-811K数据集,可以得出一些有价值的结论。首先,可以根据这些数据对晶圆WM-811K进行分类和归类,以帮助制造商对不同类别的晶圆进行区分和使用。其次,可以通过对数据集中的控制参数进行分析,找到影响晶圆品质的关键参数,并据此进行生产过程的控制和优化。此外,还可以通过对数据集中的质量检测结果进行统计和分析,找出晶圆WM-811K在不同生产批次中的质量变化规律,为后续的质量改进提供参考。 晶圆WM-811K数据集在半导体行业中的应用非常广泛。制造商可以根据数据集中的信息进行生产控制和质量管理,以提高晶圆的品质和产量。同时,研究人员也可以利用该数据集开展相关的数据分析和建模工作,以促进半导体制造技术的发展和创新。 总之,晶圆WM-811K数据集是一个重要的资源,它为半导体制造企业提供了丰富的数据基础,有助于提高产品质量和生产效率。同时,该数据集也为研究人员提供了一个宝贵的研究对象,有助于推动半导体制造技术的进一步发展。

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