芯片电路缺陷检测算法的MATLAB仿真

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该博客介绍了使用MATLAB进行芯片电路缺陷检测的算法流程,主要包括桥接、锡珠和未焊缺陷的识别。图像预处理涉及灰度化、滤波、二值化和平滑处理,接着去除白色遮挡区域,定位芯片管脚。缺陷检测通过消除阴影、合并临近区域、去除小区域来提高精度。文章还提供了参数设置示例,用于适应不同光照和图片大小的芯片检测需求。
摘要由CSDN通过智能技术生成

整个系统的基本算法流程如下所示:

 

这里缺陷检测,主要是针对焊接的时候的三种常见的缺陷:

桥接:就是两个焊接点短路,主要通过是否连通来判断;

锡珠:就是某个焊接点上存在一个较大的锡球体,主要通过面积来判断;

未焊:在焊接点上没有焊接,判断是否存在来判断;

图像预处理:

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