书籍:《炬丰科技-半导体工艺》
文章:原子层沉积(ALD)工艺
编号:JFKJ-21-676
作者:炬丰科技
关键词: 原子层沉积(ALD);原子层外延;薄膜
摘要
本文介绍了原子层沉积(ALD)法的原理,强调了前体和表面化学的重要性。通过适当调整实验条件,即温度和脉冲时间,生长通过饱和步骤进行。作为例子,描述了最近为微电子学中使用的薄膜开发的选定的ALD工艺。这些包括沉积用于电介质的氧化膜,以及用于金属化的氮化物和金属膜。使用等离子体源来形成自由基将ALD薄膜的选择范围扩大到了金属。等离子体增强