DFT指的是Design for Test,而DV指的是Design Verification。这两种工作都同样具有挑战性,都是芯片设计流程中的关键步骤。
芯片开发流程中的DFT和DV:一旦RTL代码初步开发完成,DV工程师就会开始阅读设计规范。与此同时,DFT工程师在逻辑中添加DFT相关的RTL。在DV测试RTL后,进行综合以获得门级网表。DFT工程师开始生成pattern来测试scan/mbist/lbist/jtag等。
随着RTL的改进,DV团队不断验证其他功能更改,DFT团队继续为较新的网表版本生成和测试pattern。
DFT – Design for Test
- 检查structural faults:可能因制造而产生的故障,例如stuck at 0/1 faults, bridge faults。
DV – Design Verification
- 检查functional faults:由于RTL代码错误或代码综合不正确而可能出现的故障。这导致了设计功能不正确。一般在功能验证中会用到术语:BUG
使用HALF ADDER电路的例子来了解差异。如果“A”和“B”是输入,则输出为: