信号完整性分析（三）：轨道塌陷噪声

        轨道塌陷噪声（Rail Collapse Noise）在电子工程领域通常指电源轨上的电压瞬时跌落现象，

        该电压噪声意味着供给芯片电源焊盘上的电压更低或更高。电源轨道上的电压变化可能会导致信号线上的电压噪声，进而又会造成误触发、误码或抖动加大。图1给出了微处理器电源轨道上的电压变化。

图1

        电源分配网络噪声也会引起抖动。一个门的导通传播时延与源极和漏极之间的电压有关当电压噪声使轨道电压升高时，门切换得更快，时钟和数据边沿都更陡。当电压噪声使轨道电压降低时，门切换得更慢，时钟和数据边沿都更缓。这种对时钟和信号边沿的影响是抖动的主要源头。

        高性能处理器和一些专用集成电路中的一种趋势是低电压源供电，高功率消耗。其内在原因是，每个门在每个周期都要消耗一定的能量，而芯片上的门数越来越多，开关切换速度又越来越快。假设每周期消耗同样的能量，如果切换变得更频繁，平均功率消耗就会变得更高。
        这些因素结合起来就意味着在更短的时间内将有更大的开关电流，从而使可容忍的噪声量值变得更小。随着驱动电压减小和电流量级升高，任何与轨道塌陷有关的压降将成为一个越来越严重的问题。当这些电源轨道电流流过电源分配网络互连线的阻抗时，它们在每个元件上都会产生电压降，这些压降就构成了电源轨道噪声。

这种噪声的形成原因主要包括：

1. 大负载突变：当电路中的负载突然增加，需要从电源汲取大量电流时，电源可能无法立即提供足够的电流，导致电源轨电压瞬间下降。

2. 电源内阻和电感效应：电源内部存在一定的电阻和电感，这在电流急剧变化时会产生压降，造成电源轨电压暂时性塌陷。

3. 去耦电容不足或布局不合理：电源去耦电容的主要作用是为电路提供瞬态电流，若去耦电容容量不足或放置位置不合理，将不能有效地吸收这些瞬态电流，从而引起轨道塌陷噪声。

4. 电源恢复时间过长：电源模块本身对负载变化响应速度慢，或者电源控制环路调整不及时，也可能导致电源轨电压恢复缓慢，形成轨道塌陷噪声。

轨道塌陷噪声对电路的影响主要有以下几点：

• 信号完整性受损：在数字电路中，电源轨电压的波动会导致逻辑门限值不稳定，进而影响信号的质量和稳定性，可能导致误触发或数据错误。

• 模拟电路性能下降：对于敏感的模拟电路，如放大器、ADC等，电源轨的稳定至关重要，任何微小的电压塌陷都可能导致其增益、线性度、信噪比等关键参数恶化。

• 器件寿命缩短与损坏风险增大：长期存在的电源轨塌陷可能导致元器件工作在超出规格范围的状态，加速老化，甚至引发热失控等问题，增加损坏的风险。

因此，在电路设计阶段应充分考虑电源分配网络的设计，包括合理选择电源滤波元件、优化去耦电容配置以及提高电源模块动态响应能力等措施，以有效抑制轨道塌陷噪声，保证电路的正常运行和可靠性。