数字芯片工作流程

本文详细阐述了数字芯片设计的全过程,包括项目启动、功能架构设计、前端的RTL寄存器级设计、功能验证、逻辑综合及静态时序验证,以及后端的布局布线、寄生参数提取、静态时序分析和版图物理验证,最终生成GDSII文件用于流片。
摘要由CSDN通过智能技术生成

目录

一、数字芯片流程

1.项目需求

2.功能架构设计

3.前端流程

3.1 RTL寄存器级设计

3.2 功能验证

3.3 逻辑综合

3.4 静态时序验证

3.5 DFT可测性设计

4.后端流程

4.1 布局布线

4.2 寄生参数提取

4.3 静态时序分析

4.4 版图物理验证

4.5 生成GDSII文件, 流片

       


  

一、数字芯片流程

        数字芯片工作流程如下图所示,确立项目之后分为前端和后端两部分,其实也没这么硬性要求区分,只不过行业这么都这么叫而已。

1.项目需求

        客户向芯片设计公司提出需求,芯片实现什么功能或者有什么性能要求。让芯片架构师具体细化。

2.功能架构设计

        架构师根据客户的要求,将系统功能进行分解和细化,形成spec规范,具体包括:

物理实现:

  • 工艺选择
  • 芯片面积
  • 芯片封装

性能方面:

  • 功耗
  • 速度(时钟)

功能方面:

  • 功能描述 -> spec
  • 接口定义

3.前端流程

3.1 RTL寄存器级设计

        通过Verilog HDL硬件设计描述语言针对寄存器级进行设计,根据Spec功能描述文档设计电路,来实现Spec所要求的芯片的具体功能。

工具:Verilog语言

3.2 功能验证

        通过使用verilog、Systemverilog以及UVM库来对芯片设计进行验证,这里主要包括代码验证和功能验证,检查代码是否有编译错误,Spec要求的功能是否实现。

工具:Verilog、Systemverilog、UVM

仿真工具:Modelsim、VCS

debug工具:Verdi

3.3 逻辑综合

        需要指定特定的综合库,添加约束文件;逻辑综合得到门级网表(Netlist)

3.4 静态时序验证

         在时序上对电路进行验证,检查电路是否存在建立时间(setup time)保持时间(hold time)的违例。

3.5 DFT可测性设计

        为了在芯片生产之后,测试芯片的良率,看制作有无缺陷,一般是在电路中插入扫描连(scan chain),DFT是在得到Netlist之后,布局布线(Place and Route)之前进行设计 。

4.后端流程

4.1 布局布线

        包括时钟树插入(布局时钟线),布局布线用到Synopsys的IC Compiler(ICC)工具。在布线(普通信号线)之前先布局时钟线,即时钟树综合CTS(Clock Tree Synthesis),用到Synopsys的Physical Compiler工具。

4.2 寄生参数提取

        提取延迟信息。

4.3 静态时序分析

        加入了布局布线延迟,更真实的时序分析。

4.4 版图物理验证

        DRC(设计规则检查)、LVS(版图一致性检查)。

4.5 生成GDSII文件, 流片

       

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