TDR信号debug应用

探索TDR的神奇妙用：

说到阻抗测试，那一定对TDR（时域反射计）不会陌生。是的，IPC-TM-650 规范正是推荐的这种阻抗测试方法。包括Intel早期也是推荐的泰克的TDR方案。

TDR是一种在时域中运行的仪器。它由一个高速示波器和一个采样模块组成，用于产生电压阶跃。电压阶跃沿着所研究的传输线向下传播。入射阶跃和反射电压波以代数方式相加，并由示波器在线路上的特定点进行监测。

其核心方法是差分TDR测试设备同时打出两个幅度相等、方向相反的阶跃脉冲，并通过这对差分信号的相互作用直接测出差分走线的阻抗。

原理：信号在某一传输路径传输，当传输路径中发生阻抗变化时，一部分信号会被反射，另一部分信号会继续沿传输路径传输。TDR是通过测量反射波的电压幅度，从而计算出阻抗的变化；同时，只要测量出反射点到信号输出点的时间值，就可以计算出传输路径中阻抗变化点的位置。

但是，泰克的TDR有一个很大的弊端，就是80E04模块非常容易被静电打坏，必须要专人专用，尽一切可能做好静电防护。一般PCB板厂可能会部署。否则坏一次就是2W美金，修到你不如买一台全新的。

现在常用的都是网分（VNA），以是德、罗德这两家为主。考虑到 TDR 和 VNA 都是昂贵的仪器，有时同一个实验室买不起两者，问题是：“对于所需的时域测量，哪种仪器更好？换言之，对于使用 VNA 的连接器制造商来说：“使用 VNA 进行的时域测量是否与使用 TDR 进行的相同测量具有可比性？

VNA是测量DUT的 S 参数，并在频域中显示结果。信号源发出一个连续扫频的正弦波，同时测量入射电压和反射电压的矢量比，获得DU