某年华为IC笔试

单选

1. 可以出现多个用例测试通过后某个测试点才能覆盖的情况。

A. 正确
B. 错误

2. 下边哪些因素不会影响芯片的性能（）

A. 工作电压（supply voltage）
B. 工艺参数（process）
C. 芯片面积（die size）
D. 温度（operating temperature）

• 工作电压
  芯片供电电压降低后，芯片会变慢，电压升高时，芯片会变快。
• 温度
  温度对数字IC芯片阈值电压Vt是有影响的，温度升高引起Vt下降。阈值电压Vt下降使芯片速度加快，但通常温升导致迁移率下降更快，总的影响是温度升高速度变慢

3. 时钟的占空比指的是？

时钟占空比是指时钟信号高电平在一个周期之内所占的时间比率

4. DDR SDRAM 的读写带宽由工作频率、数据位宽决定，与刷新无关。

A. 正确
B. 错误

DDR是双倍数据速率(Double Data Rate)。允许在时钟脉冲的上升沿和下降沿读出数据，因而其速度是标准SDRAM的两倍。
SDRAM刷新是为了保证数据不丢失。

5. 为了构成的4096*8RAM，最少需要1024*2多少片

A. 24
B. 8
C. 12
D. 16

 

• 字扩展
  新增地址线加译码器接片选
• 位扩展
  数据线直接扩展

4096*8/（1024*2） = 16

6. 假设S0和S1的都是2’b11，下列和((S0 == 2'b11)|(S1 == 2'b11))结果不同的是：

A. （S0==2’b11）||（S1==2’b11）
B. （S0==2’b11）| （S1==2’b11）
C. （S0 | S1）
D. （S0 || S1）

• || 逻辑或
• | 位或

7. 关于亚稳态，以下说法错误的是（）

A. 亚稳态出现的概率与器件工艺，时钟频率等有关系
B. 数字系统中，信号无法满足setup和hold时容易出现亚稳态
C. 当一个触发器进入亚稳态，既无法准确预测寄存器的输出电平，也很难预测何时输出才能稳定在某个正确地电平上
D. 亚稳态打两拍就可以消除

8. 同步数字系统中，异步电路处理不当可能引起的危害，说法正确地是（）

A. 亚稳态和时序检查不通过
B. 毛刺和时序检查不通过
C. 亚稳态和后端无法实现
D. 亚稳态和毛刺

9. Shourt-current功耗（内部短路功耗）属于动态功耗？

A. 正确
B. 错误

• 静态功耗
  在CMOS电路中，静态功耗主要是漏电流引起的功耗
• 动态功耗
  1. 开关功耗（反转功耗）
     电路在开关过程中对输出节点的负载电容充放电所消耗的功耗。
  2. 短路功耗（内部功耗）
     由于输入电压波形并不是理想的阶跃输入信号，有一定的上升时间和下降时间，在输入波形上升下降的过程中，在某个电压输入范围内，NMOS和PMOS管都导通，这时就会出现电源到地的直流导通电流，这就是开关过程中的短路功耗。

开短路

10. 模块端口的输入信号，如果没有进行赋值，其值是（0/1、x/z）

• 高阻态 Z
  高阻，即输出端属于浮空状态，只有很小的漏电流流动，其电平随外部电平高低而定，门电平放弃对输出电路的控制。或者可以理解为输出与电路是断开的。
• 不确定态 X
  设置CPLD芯片一引