单目深度测量文献综述

由于之前做过一部分相关方面的工作,现就之前阅读的文献作一个总结。

引言

光学三维深度测量技术广泛应用于众多领域,其中包括固体建模、逆向工程、地形测绘和生物医学工程等,这主要归因于该技术具有的高精度、非接触和无损伤的优点。随着实时光学三维深度测量的不断发展,光学三维深度测量技术在智能系统[1]方面将具有很大的应用潜力,同样也可以成为一种新的感知方式用于人机交互[2]。(应用背景

基于结构光的测量是一种非接触式的主动深度测量方法,由于其硬件组成系统简单,成本低的特点而得到较为广泛的应用。其典型的组成系统包括一台投影仪和一台相机,测量原理是:投影仪投影出编码好的图像到物体上,相机获取到含有条纹的物体图像,通过建立投影图像和相机图像之间一一对应的关系,深度信息将可以通过三角测量原理获得。(结构光系统的简单介绍

从投影仪投影编码图像数量考虑,基于结构光的测量方法可以分为单投影图像方法和多投影图像方法[3]。其中单投影图像方法只需要投影单幅图像,主要采用连续变化的图像、条纹编码图像[4]和网格图像[5,6]等等。为了提高这些算法的鲁棒性,颜色变化[4,7]、特定标记[8]和伪随机特性也被采用来编码图像。然而,颜色编码图像很容易受到场景中纹理的影响,编码的空间信息可能会受到深度剧烈变化的破坏。因此,单投影的方法很容易受到精度的限制,普遍适用于大多数精度要求不是很高的场合。多投影图像的方法是投影一系列的图像到场景中,一般有二值图像[9]、格雷码图像[10,11]和相移图像[11]。由于每个像素点都是由独特的时间码字编码,所以该方法可以取得很高的精度。但是,该方法比单投影图像的方法需要消耗更多的时间。(单投影图像和多投影图像的对比分析

典型的条纹图像[12]可以获得稠密深度图像,但是由于条纹信号的周期特性,这类方法主要的问题是相位模糊。尤其当场景中有多个分离的物体时或者深度剧烈变化时,解决相位模糊的问题更加困难。针对相位模糊的问题,一般是通过相位解卷从而得到解包裹相位。相位解卷算法主要有空间相位解卷方法和时间相位解卷方法[13],其两者的根本差异是时间相位解包裹方法在解包裹时不需要知道邻近像素点的相位信息,因此时间相位解包裹方法适用于测量任意几何形状的物体。在处理不连续或孤立物体时,以及存在阴影和噪声的场合下,空间相位解卷算法往往会失败,因此,研究人员将注意力集中在能够避免像素间误差传递的更有效的时间算法上[14]。到目前为止,已经发展了多种时间算法来解决这个问题,例如双波长[15]、多波长[16]、格雷码[17]等相位编码。相位解包裹的方法对比分析

在各种条纹分析方法中,相移法由于其逐像素测量和对反射率变化的鲁棒性,是最广泛使用的算法之一,包括三步相移、四步相移、双三步相移和五步相移算法,均属于多投影图像方法。在相移中,带有相移的正弦条纹图案被投影到测试对象上,并且相位通过反正切函数解调。时间相位展开[18](TPU)通常被采用,因为它适合于测量不连续物体而不会传播相位展开误差。而对于格雷码、二进制以及多进制的编码方法的优点是可以得到精确的像素编码,并且在编码过程中不需要考虑空间邻近关系,但是这些投影图案本身的离散特征限制了距离分辨率。相移的方法由于周期性的投射相移图案可以得到很高的空间分辨率[19],但是在周期之间却会比较模糊,而且时间成本也比较高,不适用于高速三维测量的场景。传统的多频相移方法采用两种不同的频率的相移图像[20,21],通过计算等效相位来得到绝对相位。其中两种不同频率的图像分为两组,每组条纹图像分别采用三步相移法获得包裹相位,进而将得到的包裹相位进行计算得到绝对相位。但是,传统的相移算法容易受到大的噪声的影响,所以不能直接使用总体等效相位来作为绝对相位。为了增加条纹顺序确定的鲁棒性,进而减少噪声的干扰,通常递归地执行后向相位展开[22,23]步骤:使用最终等效相位来确定具有第二长等效条纹周期的相位的条纹顺序,然后使用这样的展开相位来展开具有第三长等效条纹周期的相位,依此类推。但是该方法需要三种频率至少9张条纹图像,如果依次投影完这9张图像,时间成本将很高,不适用于动态测量的场合。(这里是否要增加相关的减少投影图像的方法)(相移的方法->多频相移方法->分析其优缺点)

对于单投影图像方法,仅需投影一幅图案,对每个像素进行编码时都需要考虑其他邻域像素点。优点是不仅可以用于静态物体表面信息的获取,也可以用于获取运动物体表面的信息。缺点是如果扫描中存在遮挡关系或者阴影,由于不能正确的获得某些点的邻域,从而会造成解码的困难。这也限制了空间编码的使用范围,所以空间编码方法通常仅限于扫描表面变化比较平缓的物体,而且分辨率比较低。对于场景中的遮挡或者阴影,Lu L[24]等人在系统校准和对象重建的情况下,将3D结果逐点映射到投影仪的数字微镜器件(DMD)上的相应位置,提供一组任务以基于它们在DMD平面上的映射位置来检测阴影点。(阴影去除的方法分析)

参考文献

文档: https://download.csdn.net/download/qq_30708445/11973142

视频链接: https://www.bilibili.com/video/av74077145

论文之后上传至百度云.

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