集成电路总设计(Ⅷ)

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实验八:CMOS模拟集成电路设计与仿真

作者:Saint
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一、实验原理:

1、转换速率(SR):也称压摆率,单位是V/μs。运放接成闭环条件下,将一个阶跃信号输入到运放的输入端,从运放的输出端测得运放的输出上升速率。

2、开环增益:当放大器中没有加入负反馈电路时的放大增益称为开环增益。

3、增益带宽积:放大器带宽和带宽增益的乘积,即运放增益下降为1时所对应的频率。

4、相位裕度:使得增益降为1时对应的频率点的相位与-180相位的差值。

5、输入共模范围:在差分放大电路中,二个输入端所加的是大小相等,极性相同的输入信号叫共模信号,此信号的范围叫共模输入信号范围。

6、输出电压摆幅:一般指输出电压最大值和最小值的差。
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M1、M2构成源耦合对,做差分输入;M3、M4构成电流镜做M1、M2的有源负载;M5、M8构成电流镜提供恒流源;M8、M9为偏置电路提供偏置。M6、M7为二级放大电路,Cc为引入的米勒补偿电容。

转换速率:
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第一级增益:
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第二级增益:
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单位增益带宽:
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输出级极点:
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零点:
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正CMR:
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负CMR:
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饱和电压:
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二、实验内容:

1、根据设计指标要求,针对CMOS两级共源运放结构,分析计算各器件尺寸。
2、电路的仿真与分析,重点进行直流工作点、交流AC和瞬态Trans分析,能熟练掌握各种分析的参数设置方法与仿真结果的查看方法。
3、电路性能的优化与器件参数调试,要求达到预定的技术指标。
4、整理仿真数据与曲线图表,撰写并提交实验报告。
5、运放指标要求:

驱动负载电容CL为3pF;
开环增益Av≥60dB;
增益带宽积GB≥100MHz;
相位裕度≥45°;

三、实验器材:
(1)工作站或微机终端 1台
(2)EDA仿真软件 1套

四、实验步骤:
1.要求运算放大器设计指标:直流开环增益:260dB,单位增益带宽:≥100MHz,相位裕
度≥45°,功耗≤10mW,负载电容3PF。

2.选取元器件为:电源电压Vdd=3.3V,差分输入v±1.5V,叠加±0.1mV的正弦信号。
NMOS参数:Kn=1.67×10^-4, Vthn=0.6±0.1v;PMOS参数=3.98×10^-5,Vthp=-0.7±0.1V;tox=7×10^-9m ;

MOS管栅长W:0.24<W<100um宽:0.34<L<50um.为获得最小特征尺寸,MOS管L均取为0.35um。

3.由3pF负载电容及45°相位裕度得密勒补偿电容CL=0.66pF.直流偏置管M10及M9提供大约50uA左右的偏置电流,经反复调试得其W=0.7um L=0.35um.其后对剩余MOS管宽长比的调试不影响偏置电流大小。M6提供大约200uA的电流,最终确定其W=2um, L=1um, M1,M3 的W=1um,L=1um

4.为获得60dB的增益,主要是调试一级差分放大管M5和二级放大管M2的宽长比。经反复运行修改后,得到M4,M5

W=15um,L=1um。M2的W=46um,L=1um。M8的W=44um,L=1um。

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5.调试后得到电路的幅频相频特性曲线。

五、实验数据及结果分析:
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分析:对电路进行AC分析,取两个输入正弦信号V+和V-的直流偏置为1.5V,AC magnitude为1V,Amplitude为0.1mV,Frequency为100Hz,相位差180°。测得的输出Vout的AC 20dB波形如图所示,可知低频(小于200Hz)增益Av=87.14dB>60dB,GB=26.52MHz<60MHz不满足要求。(0dB带宽处)的相位裕度为46.19°,满足设计要求PM>45°的要求。

六、总结及心得体会:
1、通过本次实验掌握了Linux操作系统常用命令的使用,Cadence EDA仿真环境的调用。达到了实验目的。

2、根据设计指标要求,设计两级共源CMOS运算放大器,并进行了参数优化,最终增益、相位裕度满足要求,但是带宽GB=26.52MHz<60MHz不满足要求,应该是输出端M3和M14的宽长度应该尽量低,因为需要把主极点往左移,次极点往右移,应该要增大输出阻抗,于是减小ids,即将M3的宽减小,带宽应增大。

七、对本实验过程及方法、手段的改进建议:

实验不仅要求使用Cadence较为娴熟地构造电路,还要通过自己所学知识,计算出电路中各个元器件的相关理论参数;然后在Cadence中对电路进行仿真,因此在设计时我们应从功耗入手,确定每一级的电流,因为电流都是电流镜镜像过来的,所以电路中的电流镜管的宽长比应呈倍数,通过合理调整各个元器件的相关参数,使得仿真结果满足要求。

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