TPAMI 2024 | 用于确定性几何模型拟合的潜在语义共识

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Latent Semantic Consensus for Deterministic Geometric Model Fitting

题目:用于确定性几何模型拟合的潜在语义共识

作者:Guobao Xiao; Jun Yu; Jiayi Ma; Deng-Ping Fan; Ling Shao
源码:https://github.com/guobaoxiao/LSC


摘要

在计算机视觉中,从包含大量异常值的数据中估计可靠的几何模型参数是一项基础且重要的任务。本文尝试采样高质量子集并选择模型实例以估计多结构数据中的参数。为此,我们提出了一种称为潜在语义共识(Latent Semantic Consensus, LSC)的有效方法。LSC的原理是在数据点和模型假设中都保留潜在的语义共识。具体来说,LSC基于数据点和模型假设分别构建了两个潜在语义空间来表述模型拟合问题。然后,LSC探索两个潜在语义空间中点的分布,以去除异常值,生成高质量的模型假设,并有效估计模型实例。最终,由于其确定性拟合特性和效率,LSC能够在几毫秒内为一般多结构模型拟合提供一致可靠的解决方案。与几种最先进的模型拟合方法相

IEEE TPAMIIEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence)是一个涵盖模式识别、计算机视觉、图像处理和机器学习等领域的高质量期刊,其中也包括用于缺陷检测的研究。 以下是一些在IEEE TPAMI期刊上发表的用于缺陷检测的论文: 1. "Automatic Defect Detection in X-Ray Images Using Convolutional Neural Networks"(使用卷积神经网络自动检测X射线图像中的缺陷)-- 该论文提出了一种基于卷积神经网络(CNN)的自动缺陷检测方法,该方法可以应用于各种类型的X射线图像中的缺陷检测。 2. "Unsupervised Defect Detection in Textured Materials Using Convolutional Autoencoders"(使用卷积自动编码器在纹理材料中进行无监督缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于卷积自动编码器(CAE)的无监督缺陷检测方法,该方法可以有效地检测纹理材料中的缺陷。 3. "A Hierarchical Approach to Defect Detection in Semiconductor Wafer Images"(半导体晶圆图像缺陷检测的分层方法)-- 该论文提出了一种基于分层方法的缺陷检测方法,可以应用于半导体晶圆图像中的缺陷检测。 4. "Deep Learning-Based Defect Detection in Semiconductor Manufacturing"(基于深度学习的半导体制造中的缺陷检测)-- 该论文提出了一种基于深度学习的缺陷检测方法,可以应用于半导体制造中的缺陷检测,并且在实验中取得了良好的结果。 这些论文都展示了IEEE TPAMI作为一个重要的期刊,提供了广泛的研究和应用领域,包括缺陷检测。
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