ATE测试中的四线开尔文测试(2)

图1展示了电阻的四线测量迁移到待测器件的四线测量的思考过程。

图2展示了电阻的两线测量迁移到待测器件的四线测量的思考过程。对于一个VI源来说，四线测量的“四线”分别为：FOVI源Force线的H端、 FOVI源Sense线的H端、 FOVI源Force线的L端、FOVI源Sense线的L端。 

对于DUT(Device Under Test 待测器件)而言，它的H端为各个PIN脚，它的L端为GND。因此，若以OUT1脚的开尔文连接为例， OUT1脚的开尔文连接回路应该如图3所示，其中FOVI0充当了电流表、电压表的角色，因此应该有：

FOVI0_HF 连 OUT1_F; FOVI0_HS 连 OUT1_S;

FOVI0_LF 连 GND_F; FOVI0_LS 连 GND_S;