【ARM Coresight 系列文章 3.4 - ARM Coresight JTAG 详细介绍】

本文详细介绍了ARM Coresight JTAG技术,包括JTAG背景、引脚配置、JTAG简介、边界扫描、TAP状态机的工作原理。JTAG是一种用于芯片测试和调试的接口,通过TAP控制器和TMS、TCK、TDI、TDO等信号控制数据寄存器和指令寄存器,实现对芯片输入输出的观察和控制。边界扫描技术允许在不干扰正常运行的情况下检查和控制芯片输入输出。TAP状态机的16个状态控制数据寄存器和指令寄存器的访问,实现对芯片内部逻辑的测试。
摘要由CSDN通过智能技术生成


请阅读【ARM Coresight SoC-400/SoC-600 专栏导读】


在这里插入图片描述

JTAG 背景介绍

IEEE 1149.1标准测试访问端口和边界扫描架构的名称称为JTAG(联合测试行动组),这种边界扫描架构主要用于计算机处理器,因为第一个带有JTAG的处理器是由Intel发布的。

该IEEE标准简单地定义了如何测试计算机的电路以确认其在制造过程后是否正常工作。在电路板上,可以用来执行测试以检查焊点。

联合测试行动小组为测试人员提供了每个IC焊盘的引脚视图,有助于识别电路板内的任何故障。一旦该协议与芯片接口,就可以通过允许开发人员控制芯片及其与其他芯片的连接,将探针连接到芯片。开发人员还可以使用联合测试行动组的接口将固件复制到电子设备的非易失性存储器中。

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