数字IC笔记-scan chain

最新推荐文章于 2025-03-12 22:36:57 发布
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分类专栏： 数字IC后端笔记 DFT 文章标签： 芯片
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scan chain

1.定义：
满足可测试性设计(DFT),将设计中所有的触发器连接到一条或者若干条链上，称为scan chain。将一个复杂的时序电路转换为简单的组合电路进行测试。这一步是在逻辑综合(DC)中实现.
在这里插入图片描述
当SE=1时，电路进入scan状态，当SI=0时，电路工作在normal状态。

2.为什么进行scan chain reordering：
在DC综合阶段，工具没有寄存器的物理位置信息，按照字母顺序做scan chain的插入，连接方式并不是最优的。
在ICC中place是基于time和congestion driven,所以原来寄存器在scan chain 中是前后级关系，在ICC中可能离得比较远，导致寄存器SI端走线很乱，加重design中的congestion issue问题。

3.如何做reordering
首先在逻辑综合阶段，写出scandef，其次在ICC中读入对应的scandef

        import_def scan.def

在place_optimize和post_cts_opt命令进行reordering scan chain。
做了reordering scan chain之后，相邻的寄存器连线很近，会导致hold违例较多，因此在place阶段重排序之后，务必在cts_opt阶段继续做进一步优化。

4.Scan.def 的结构

若case中已经有scan chain,可以通过下面命令直接输出scan.def和top.v文件

        export_def -scan scan.def
        export_verilog top.v

5.完整Scan.def 的结构
在这里插入图片描述

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