DFT学习笔记-Mbist基础概念

PD没学完，调去了DFT，只能开始学习DFT了。之前的ic后端学习笔记也不再更新了吧。

DFT意为Design For Testability，可测性设计，是在芯片功能电路设计好之后（有时也会在设计好前并行进行，节省时间）插入一定的测试电路，方便在流片之后对芯片的缺陷进行测试。DFT一般只针对芯片的制造缺陷（manufacturing default），比如制造过程中造成的短路、断路等等，不关注芯片的功能缺陷（functional default）。

DFT测试电路大致可以分为三类：

针对IO的DFT设计一般用Boundary Scan（也叫Jtag），针对普通逻辑电路的DFT设计一般用Scan，针对芯片上的片上存储器DFT，一般用Mbist（Memory Build In Self Test，存储器内建自测试）。

Mbist测试电路由以下几部分组成：

被测memory

• TAP（Test Access Port），测试接入点
• SIB（Segment Insertion Bit）
• BAP（BIST Access Port）
• 测试接口及Mbist controller，二者统为BIST电路

各个部分的连接关系如下：

在进行Mbist测试时，典型的流程为：

TAB->SIB->BAP->BIST(Mbist controller->interface)->memory

其中TAB->SIB->BAP这条通路相当于Mbist的控制通路，用的是slow clock，Mbist controller->interface->memory是测试通路，用的是fast clock。有了基础的概念之后，下一节更新Mbist的flow。