PD没学完,调去了DFT,只能开始学习DFT了。之前的ic后端学习笔记也不再更新了吧。
DFT意为Design For Testability,可测性设计,是在芯片功能电路设计好之后(有时也会在设计好前并行进行,节省时间)插入一定的测试电路,方便在流片之后对芯片的缺陷进行测试。DFT一般只针对芯片的制造缺陷(manufacturing default),比如制造过程中造成的短路、断路等等,不关注芯片的功能缺陷(functional default)。
DFT测试电路大致可以分为三类:
针对IO的DFT设计一般用Boundary Scan(也叫Jtag),针对普通逻辑电路的DFT设计一般用Scan,针对芯片上的片上存储器DFT,一般用Mbist(Memory Build In Self Test,存储器内建自测试)。
Mbist测试电路由以下几部分组成:
被测memory
- TAP(Test Access Port),测试接入点
- SIB(Segment Insertion Bit)
- BAP(BIST Access Port)
- 测试接口及Mbist controller,二者统为BIST电路
各个部分的连接关系如下:
在进行Mbist测试时,典型的流程为:
TAB->SIB->BAP->BIST(Mbist controller->interface)->memory
其中TAB->SIB->BAP这条通路相当于Mbist的控制通路,用的是slow clock,Mbist controller->interface->memory是测试通路,用的是fast clock。有了基础的概念之后,下一节更新Mbist的flow。