DFT学习笔记（一）|DFT是什么？

什么是DFT？

DFT是Design For Test的缩写。 指在芯片设计过程中引入测试逻辑，并利用这部分测试逻辑完成测试向量的自动生产，从而达到快速有效的芯片测试的目的。DFT分功能测试和制造测试，功能测试主要寻找设计上可能存在的错误，用来验证电路中的逻辑行为；制造测试用于寻找在制造过程中可能存在的制造缺陷（开路、短路等）。

DFT是为了使制造测试尽可能简单，覆盖率尽可能高，而在电路中加入一些特殊逻辑的设计方法。

DFT的工作包括什么

• 在项目初期规划DFT架构；

• 在RTL级别设计测试电路；

• 在验证阶段验证测试电路；

• 在synthesis阶段实现测试逻辑的插入；

• 在测试阶段提供测试向量。

IC设计流程

数字前端设计（front-end）：以生成可以布局布线的网表为终点；

数字后端设计（back-end）：以生成可以进行流片的GDSII文件为终点；

芯片架构-RTL设计-功能仿真-综合&扫描链插入-等价性检验-静态时序分析（前端部分结束）-（后端部分开始）布局规划-布局和布线-布线图与原理图的比较-设计规则检查-签名静态时序分析-GDSII

DFT常见技术

（1）Scan Chain（扫描链），针对时序电路，测试寄存器（Flip-Flop）和组合逻辑；

（2）MBIST（Memory Bulit-in Self Test，内建自测试），测试芯片中存储资源， rom 和 ram，在设计中插入内建自测试逻辑；

（3）Boundary Scan（边界扫描），测试封装与 IO、芯片间互联，主要逻辑有 TAP Controller 和 Boundary Scanchain）、JTAG（JTAG 是boundary scan design中用到的一个基本结构）。

ATPG（Automatic Test Pattern Generation，自动测试向量生成，基于扫描链，根据算法推算出应该加载到扫描链上的激励序列和期望序列，这样的序列称为测试向量）；

DFT 构建硬件结构，ATPG 生成测试向量。

DFT工程师所需要的能力

• DFT的基本概念：MBIST/boundary scan/logic bist

• 前端知识：RTL coding

• 脚本语言能力：Perl/Python/TCL/shell

• EDA工具

• Timing知识：减少对Timing的影响

• ATE debug知识：

其他知识

DFT 能够覆盖电路时序问题

DFT 的 Scan Chain 扫描链：针对时序电路，测试寄存器（Flip-Flop）和组合逻辑；

其中，DC Scan是慢速测试；AC Scan是全速测试 at speed test，使用高于芯片工作频率的时钟，测试 setup 和 hold 。

DFT 影响动态功耗

影响器件测试的动态功耗有两种：峰值功率和平均功率。峰值功率，也称为“瞬时功率”，反映了器件中节点开关的活动水平，从一个逻辑状态切换到另一个状态的节点数量越多，峰值功率就越大，DFT 里涉及大量 MUX 选择开关。

DFT（Design for Test）检测制造缺陷

在芯片设计过程中，加入各种 可测性逻辑，使芯片变得容易测试，找到存在 制造缺陷 的芯片，主要是为了找出在 生产制作 中引入的 制造缺陷（短路、断路等）。

DFT：为了检查 制造缺陷，降低测试成本，提高产品质量。

常见的可测性设计技术（Design for Test）

Scan Chain 扫描链，针对时序电路，测试寄存器（Flip-Flop）和组合逻辑；

MBIST 存储器内建自测试，测试芯片内的 rom 和 ram；

Boundary Scan 边界扫描，测试封装与 IO、芯片间互联。