一种3位sar adc工作过程推导(二)

3位sar adc采用下图的电容阵列,需要23个电容,它的基本单元有二进制加权的电容阵列、1个与LSB电容等值的电容;它利用电容上的初始电荷再分配完成二进制搜索算法,因此功耗一般比较小,而且不需要额外的采样保持电路1

上一篇文章《一种4位sar adc工作过程推导(二)》讨论了两个参考电压VrefP和VrefN取值的一般情况,可以通过改变电路的结构和开关时序逻辑来满足参考电压VrefP和VrefN取值的一般情况。

下面针对前文《一种3位sar adc工作过程推导》提出的3位sar adc的电路结构进行稍微修改,修改后的电路如下图:所有电容的正端(也称为上极板)与比较器的同相端连接,比较器反相端接VrefN,下面对其工作过程进行大致分析

3bit_adc原理图(二)

两个参考电压 V r e f P V_{refP} VrefP V r e f N V_{refN} VrefN V − = V r e f N V_{-}=V_{refN} V=VrefN,假设 5 8 ( V r e f P − V r e f N ) + V r e f N < V i n < 6 8 ( V r e f P − V r e f N ) + V r e f N \frac{5}{8}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN}<V_{in}<\frac{6}{8}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN} 85(VrefPVrefN)+VrefN<Vin<86(VrefPVrefN)+VrefN



分析过程:

step 0:采样阶段

3bit_adc采样阶段(二)

ϕ 1 \phi_{1} ϕ1开关闭合,比较器同相端都接Vin;同时让电容负端都接参考电压VrefP

电容上存储的电荷量 Q = ( V i n − V r e f P ) ⋅ 8 C Q=(V_{in}-V_{refP})\cdot8C Q=(VinVrefP)8C

比较器同相端电压 V + = V i n V_{+}=V_{in} V+=Vin

step 1:电荷再分配阶段(电压比较阶段)

3bit_adc_step1(二)

首先将开关 ϕ 1 \phi_{1} ϕ1断开,电容4C的负端接VrefN,其余电容保持接VrefP不变
根据电容上的电荷量相等,可得

( V + − V r e f P ) ⋅ 4 C + ( V + − V r e f N ) ⋅ 4 C = ( V i n − V r e f P ) ⋅ 8 C \begin{aligned} &(V_{+}-V_{refP})\cdot4C+(V_{+}-V_{refN})\cdot4C=(V_{in}-V_{refP})\cdot8C \end{aligned} (V+VrefP)4C+(V+VrefN)4C=(VinVrefP)8C

⇒ V + = V i n − 1 2 ( V r e f P − V r e f N ) \Rightarrow V_{+}=V_{in}-\frac{1}{2}(V_{refP}-V_{refN}) V+=Vin21(VrefPVrefN)


V + − V − = V i n − 1 2 ( V r e f P − V r e f N ) − V r e f N = V i n − [ 1 2 ( V r e f P − V r e f N ) + V r e f N ] \begin{aligned} V_{+}-V_{-}&=V_{in}-\frac{1}{2}(V_{refP}-V_{refN})-V_{refN}\\ &=V_{in}-[\frac{1}{2}(V_{refP}-V_{refN})+V_{refN}] \end{aligned} V+V=

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