ATE测试基础——功能测试项

时序测试

上升/下降时间

  主要测试信号从10%电压上升到90%电压和从90%电压下降到10%电压的过程。对于不同芯片标准会有所差异。该项测试主要受到结电容和寄生电容的影响。如果电容值过大导致上升下降时间太长会导致频率降低，电容值太小会产生过冲和下冲现象。

建立/保持时间

 主要测试芯片的极限频率下信号能否符合时钟沿的工作需求。信号需要在时钟沿到来之前的一段时间内达到规定的电平，即建立时间；同时信号还需要在时钟沿到来之后保持一段时间的电平才可被工作时钟处理，即建立时间。只有满足这两个条件的信号才能被芯片处理，两个时间的最小值由芯片最高频率决定。

上升/下降延迟

上升延迟（Tplh）：在输入管脚信号发生变化时，输出管脚从L状态变化为H状态所需要的转变时间，称为上升延迟。 下降延迟（Tphl）：在输入管脚信号发生变化时，输出管脚从H状态变化为L状态所需要的转变时间，称为下降延迟。

使能/关断延迟

使能延迟（Tpzh/Tpzl）：在输入管脚信号发生变化时，输出管脚从Z状态变化为H，L状态所需要的转变时间，称为使能延迟。 关断延迟（Tplz/Tphz）：在输入管脚信号发生变化时，输出管脚从L，H状态变化为Z状态所需要的转变时间，称为关断延迟。

ADC/DAC测试

  ADC（模数转换器）和DAC（数模转换器）是电子设备中至关重要的组件，它们负责将模拟信号转换为数字信号，或者将数字信号转换为模拟信号。

  ADC和DAC的分辨率都仅由其设计架构所决定。分辨率是指转换器能够区分和表示的最小信号变化，通常以比特数（bits）来衡量。然而，除了分辨率之外的其他性能参数，如实际量程范围、编码的均匀性、误差性能以及高频响应等，都可能会因为半导体制造过程中的微小差异或材料本身的不一致性而与设计预估值存在偏差。

  为了确保ADC和DAC的性能符合设计规范，无论是在设计验证阶段还是在生产出货阶段，对这些转换器进行精度测试都是必不可少的。这些测试不仅能够验证产品是否达到了设计要求，而且还为可能的进一步校正提供了依据。通过这些严格的测试流程，可以保证电子产品的性能和可靠性，满足用户对高质量信号转换的需求。

  其基本步骤是：向ADC提供一个精确的模拟电压输入，随后ADC将这个模拟信号转换为数字信号。在此之后，我们使用一个数字信号接收装置来捕获转换后的数字输出。最后，对这些数字数据进行处理、运算和分析，以便准确评估ADC的转换精度和性能。

斜坡测试

  斜坡测试，又称锯齿波测试，是利用单个或多个斜坡组合形成的锯齿波信号作为输入激励，以此对ADC进行精度评估。在该测试中，为了全面评估待测ADC的性能，通常需确保在每个最低有效位（LSB）的区间内，至少有一个激励信号电压点。当每个LSB范围内激励信号电压点数只有1~2个时，可能仅可以确认增益误差（Gain Error）、失调误差（Offset Error）这样的宏观参数；LSB范围内点数足够多时，才能深入分析以确定转换编码的跳变电压点，从而算出其积分非线性（INL）、微分非线性（DNL）性能数据，以及判断是否有丢码（Missing Code）现象。

斜坡测试示例

  模拟电压生成设备通常由任意波形发生器（AWG）充当，它们能够提供精细的电压步进，以确保在待测ADC的每个LSB范围内都有足够的测试电压点，从而准确评估待测件的增益误差、失调误差、INL、DNL等关键静态性能指标。此外，也正如上面所提到，AWG的输出范围还应该稍稍大于待测ADC的标称量程。

直方图测试

  直方图测试是ADC精度测试中的一个常用手段，其核心在于对统计域数据的分析和处理。这种方法与斜坡测试相似，都旨在评估ADC的静态特性参数。通过对ADC输出进行大量采样，并绘制数据分布的直方图，可以直观地观察到量化误差的分布情况，从而对ADC的线性度、增益误差、偏移误差等关键性能指标进行定量分析，除此之外，我们还可以通过检查是否存在编码频次为零的情况来找出丢码现象。为了确保统计结果的可靠性，有时需要进行多轮循环测试，并将各轮的统计结果进行叠加，以便获得更稳定和可信的数据分析。

直方图测试示例

动态范围测试

  动态测试是一种利用正弦波信号作为激励，对ADC进行频率响应特性评估的方法。在此测试中，ADC的转换输出会经过快速傅里叶变换（FFT）处理，以便在频域内进行分析。通过这种分析，可以获得关键的动态性能参数，包括信号噪声及失真比（SINAD）、有效位数（ENOB）、总谐波失真（THD）以及无杂散动态范围（SFDR）。这些参数对于评估ADC在处理变化信号时的性能至关重要，特别是在音频、通信和测量等领域，其中信号的频率成分和动态范围对系统整体性能有着决定性的影响。

动态范围测试示例

DAC测试

  在掌握了ADC测试的相关知识后，将这些概念扩展到DAC的测试领域是相当直接的。其实只需要把ADC测试中的数据流动方向反转，即可应用于DAC的测试。具体来说，我们会使用数字信号设备来输出激励信号，同时利用模拟信号采集设备来捕获DAC产生的模拟输出。而这种测试配置的转变，自然导致了硬件需求上的显著变化。

  首先，对于数字信号设备，其角色从接收输入信号转变为主动输出信号。这意味着，我们需要一个能够产生精确、可控数字信号的设备，如一个高精度的数字信号发生器。

  其次，在模拟信号一侧，原本用于输出信号的AWG被替换为用于采集信号的数字化仪，也称为WFD（Waveform Digitizer）。这类设备能够将模拟信号转换为数字信号，以便进行后续的信号处理和分析。

  同样地，面向DAC的精度测试，也有斜坡测试、动态性能测试以及直方图测试三种常见方法。这些测试的基本原理与前面所说的，应用在ADC测试时类似，关注的参数也大致相同。也即是说，还是通过斜坡测试和直方图测试评估DAC的静态特性，而动态性能测试则用于测量其动态特性。

  值得一提的是，在进行DAC测试时，输入输出量程的处理相对简单。无论采用哪种测试方法，数字信号发生器只需将其输出码型与DAC的输入编码范围一一对应即可。此外，用于采集数据的WFD的量程应确保略大于DAC的设计输出范围，以便能准确捕捉到所有的输出信号。