JTAG级联方案

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简介

JTAG标准连接

特别注意


简介

项目中使用了JTAG级联,但是使用的是直接连的方式,该方式架构如下:

采用的是一主多从的方式。这种方式在JTAG标准中并没有体现。

JTAG标准连接

在JTAG标准中,JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起,形成一个JTAG链,能实现对各个器件分别测试。

这样做有两个好处:(1)可以节省多个JTAG口所占用的PCB空间,特别适合空间有限的嵌入式系统,如小型工业摄像机等;(2)嵌入式系统处于封闭环境中,有时需要对系统中的FPGA程序进行在线或远程升级,必须将JTAG口引到机箱外,显然这种单JTAG口的菊花链结构是最佳选择。

由于TCK和TMS两个信号是连接到菊花链中的所有芯片,因此这两个信号的质量(完整性)非常重要!特别是时钟信号TCK,任何毛刺干扰和边沿抖动都会导致下载失败。

当菊花链中的芯片(或设备)在3个以上时,TMS和TCK必须加缓冲器(如74LVC245),以增加其驱动能力,对于一些驱动能力差的国产下载器尤其重要。每个驱动门所在分支链路中的芯片(或设备)数量取决于缓冲器的驱动能力,一般74LVC245(8缓冲)的一个缓冲门可驱动3~4个负载(芯片)。在TCK的缓冲器输出端串接一个20~30Ω的电阻,设备端并接一个100~1000p的电容到地,可明显降低边沿抖动、减少毛刺干扰。

特别注意

JTAG协议规定TCK下降沿输出TDI数据有效,并在TCK上升沿采集TDO数据,因此,在整个JTAG链中必须保证TDI至TDO的贯通延时(Propagation Delay)TCPD必须小于TCK的1/2周期TCLK/2,即△T=TCLK/2 –TCPD>0。也就是说,在增加缓冲驱动的情况下,JTAG链路中的芯片总数与每个芯片的TDO延时TDOV(FPGA为TTCKTDO)和TCK频率有关。在芯片总数确定以后,为保证△T>0,可以降低TCK的频率。

JTAG的拓扑比较诡异,尽管频率不高。TMS、TCK是一主多从并联的结构;TDI、TDO是一主一从串联的。如果板上没有TMS、TCK的缓冲器,且布局布线不够好,TCK上的过冲会厉害,只要过冲造成一个错误的边沿,JTAG就挂了。解决办法就是降低TCK的频率,线上串小电阻,TCK/TMS终端并个小电容。

<think>嗯,用户想知道JTAG是干什么的。首先,我需要回忆JTAG的基本定义。记得JTAG是Joint Test Action Group的缩写,最初是用来解决电路板测试问题的标准。现在可能广泛应用于芯片和PCB的测试、编程和调试。 接下来,用户可能需要具体的功能。应该分点说明,比如边界扫描测试、芯片编程、调试接口、系统级测试等。每个功能要简单解释,用例子帮助理解,比如用JTAG下载固件到闪存。 还要考虑用户可能的背景。他们可能是电子工程师或学生,需要技术细节但不过于复杂。要避免使用太多术语,或者遇到术语时解释清楚,比如边界扫描测试如何通过移位寄存器检测连接问题。 另外,应用场景也很重要。比如嵌入式开发、生产测试、维修等场景下JTAG的作用。用户可能想知道在什么情况下会用到JTAG,这样能更好理解其用途。 需要注意用户提到的系统级指令,比如数学公式的格式,但这个问题可能不需要数学表达式,所以可能不需要处理这部分。不过如果有涉及方程的地方,比如时序或信号处理,可能需要用LaTeX,但这里可能不相关。 还要确保回答结构清晰,分点说明,帮助用户逐步了解JTAG的功能和应用。可能需要先定义,再讲功能,再讲应用场景,最后总结优势。这样用户能有一个逻辑上的理解流程。 需要验证一下JTAG的当前应用,是否还用于其他方面,比如安全或加密,但可能基础介绍不需要深入这些细节。保持回答简洁全面,确保信息准确,比如IEEE 1149.1标准。 最后,检查语言是否口语化,符合要求的中文回答,避免使用Markdown格式,用自然的分段和编号。同时确保每个部分的信息正确,没有技术错误。</think>JTAG(Joint Test Action Group,联合测试行动组)是一种广泛应用于电子设备测试、调试和编程的行业标准接口。其核心功能基于**IEEE 1149.1标准**,以下是它的主要用途和功能分步说明: --- ### 一、核心功能 1. **边界扫描测试(Boundary Scan)** - **问题背景**:传统电路板测试需物理探针接触引脚,但随着芯片引脚密度增加,物理测试变得困难。 - **解决方案**:JTAG通过在芯片内部嵌入“边界扫描单元”,构成移位寄存器链,实现对引脚状态的数字化访问。例如,可检测焊接短路(如两个引脚意外连接)或开路(如引脚未焊接到PCB)。 2. **芯片编程与调试** - **编程**:通过JTAG接口将固件/程序烧录到Flash、FPGA或微控制器中(如ARM Cortex-M系列芯片)。 - **调试**:实时控制处理器(启动/暂停)、设置断点、读写内存/寄存器(例如通过OpenOCD工具链)。 3. **系统级测试与诊断** - 在复杂系统中,JTAG级联多个芯片的扫描链,实现整板逻辑状态的检测(例如验证DDR内存与CPU的连接是否正常)。 --- ### 二、典型应用场景 1. **生产测试** - 自动化检测PCB组装缺陷(如虚焊、错件),替代传统人工目检或飞针测试。 2. **嵌入式开发** - 开发者通过JTAG调试器(如J-Link、ST-Link)进行代码单步执行、变量监控和故障排查。 3. **现场维护与维修** - 无需拆解设备,直接通过JTAG接口读取故障芯片的状态日志或更新固件。 --- ### 三、技术优势 - **非侵入式测试**:无需物理接触引脚,降低测试复杂度。 - **标准化接口**:统一了不同厂商芯片的测试方法(需符合IEEE 1149.1)。 - **低成本**:仅需少量引脚(TCK、TMS、TDI、TDO和可选的TRST)即可实现复杂功能。 --- ### 四、硬件接口示例 典型的JTAG接口包含以下信号: - **TCK**(测试时钟) - **TMS**(测试模式选择) - **TDI**(测试数据输入) - **TDO**(测试数据输出) - **TRST**(可选复位信号) --- ### 总结 JTAG是电子设备开发、生产和维护中的关键工具,通过数字化边界扫描技术解决了高密度集成电路的测试难题,同时为芯片编程和调试提供了高效手段。
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