IC 约束篇(05-01)芯片开发全流程:数字 IC 前端设计 + 后端实现

芯片原厂必学课程 - 第五篇章 - IC 约束篇

05-01 芯片开发全流程:数字 IC 前端设计 + 后端实现

新芯设计:专注,积累,探索,挑战

🌏 一、引言

  这一份 PDF 资源是本人花了半个月整理的,IC 前端设计流程在文中给出,IC 后端设计流程除了在文中给出之外,还附加了总共六十页的 PDF 详细流程文档,完整展示了 IC 设计流程(前端 + 后端)详细的设计与实现

文末提供了 PDF 的免费获取方式

IC Backend_纳米工艺 VLSI 物理设计与实现 PDF 预览 1

IC Backend_纳米工艺 VLSI 物理设计与实现 PDF 预览 2

IC Backend_纳米工艺 VLSI 物理设计与实现 PDF 预览 3

  IC 前端设计(逻辑设计)和 IC 后端设计(物理设计)的区分主要是以是否与工艺有关来区分;前端不涉及工艺,主要是实现芯片的功能设计,属于 IC 设计公司,即 FABLESS 的范畴,后端设计到工艺,主要是生产芯片,属于 IC 制造公司,即 FOUNDARY 的范畴

  NOTES:本文来自《芯片原厂必学课程 - 第五篇章 - IC 约束篇》技术专栏


🌏 一、IC 前端设计流程(RTL to GATE-NETLIST)

1. 芯片架构:考虑芯片定义

2. RTL 设计:芯片功能设计,硬件描述语言如 Verilog HDL、VHDL、SystemVerilog

3. 功能仿真:验证芯片功能设计的正确性,EDA 工具如 Synopsys 的 VCS、Cadence 的 NC-Verilog、Mentor 的 ModelSim 等等

4. 逻辑综合:将 RTL 转换成门级网表 GATE-NETLIST,逻辑综合要指定基于的 LIB 和工艺,设置特定且正确的约束条件,综合之前的仿真为前仿真,综合之后的仿真为后仿真,EDA 工具如 Synopsys 的 Design Compiler、Cadence 的 Genus 等等

5. STA 静态时序分析:检查 SETUP 建立时间和 HOLD 保持时间是否发生 VIOLATION 违例,EDA 工具如 Synopsys 的 PrimeTime 等等

6. 形式验证:在功能上,对综合后的网表进行验证,通过 Equivalence Check 等价性检查方法,以功能验证后的 RTL 设计为參考,对照综合后的网表功能,检查是否在功能上存在等价性,从而保证在逻辑综合过程中没有改变原先 HDL 描述的电路功能,EDA 工具如 Synopsys 的 Formality、Cadence 的 Conformal 等等


🌏 二、IC 后端设计流程(GATE-NETLIST to GDSII)

  作为《IC Backend_纳米工艺 VLSI 物理设计与实现》流程详解文档,包括了 Cadence Genus 综合技术,物理设计与实现流程,RTL to GDSII 流程,让你了解库文件(网表库、时序库、物理库)、RTL 文件、时序约束文件、综合、平面布局规划(芯片大小、IO、电源规划、宏单元、布线光晕、摆放块等等)、摆放、布线(实验布线、特殊布线、真实布线)、时钟树综合(预时钟树和后时钟树综合)、时序分析、时序修正、电源分析、信号完整性分析、金属填充、物理验证、代工厂 TAPEOUT 等等

0. 综合 SYNTHESIS:将硬件描述语言转化成门级网表,即 RTL to GATE-NETLIST,由于这里隶属于前端,所以,以 0 表示,EDA 工具如 Cadence 的 Genus,输入文件为 .V + .LIB + .SDC(RTL 设计文件、工艺库文件、时序约束文件)

1. 设计输入 DESIGN IMPORT:输入文件为网表库(.V)+ 时序库(.LIB)+ 物理库(.LEF)+ 时序约束文件(.SDC)+ IO 文件(.IO)+ 可选文件如规划布局文件(.FP)、工艺文件(.QRC)、版图文件(.GDS)、时钟树规范文件(.SPEC)、扫描链信息等等

2. 平面布局规划 FLOORPLAN:包括芯片大小(DIE SIZE)的规划、I/O Pad 规划、宏单元(MACRO)以及大量硬核或模块(Hard Cores、Hard Blocks)的规划等等,是对芯片内部结构的完整规划和设计,其中,电源规划是给整个芯片的供电设计规划出一个均匀的网络,Power Ring(电源环)指为了均匀供电,包围在芯片周围的环形供电金属,实现稳定供压的作用;Power Strips(电源条)指芯片内部纵横交错的 Power Grids(电源网格),主要是防止 IR Drop(电压降),也就是电路中有过高的压降会导致器件运行速度很慢

3. 扫描链定义 SCAN CHAIN:扫描链(Scan chain)是可测试性设计(DFT)的一种实现技术;它通过植入移位寄存器(Shift Register),使得测试人员可以从外部控制和观测电路内部触发器的信号值,从而使得设计具有可控性和可观察性

4. 摆放 PLACEMENT:平面布局规划后,宏单元、I/O Pad 的位置和放置标准单元的区域都已确定,Placement 是将设计中的所有标准单元和块摆放到 Floorplan 的设计中

5. 时钟树综合 CLOCK TREE SYNTHESIS:CTS 指的是通过插入缓冲器 Buffer 减小负载和平衡延时(主要是针对时钟偏差,能够消除 Clock Skew),时钟网络及其上一级一级的缓冲单元构成了时钟树

6. 静态时序分析 STATIC TIMING ANALYSIS:STA指的是时钟树插入之后,每一个单元的位置都确定下来了,工具可以提出 Global Route 形式的连线寄生参数,此时对延时参数的提取就比较准确了;然后通过 EDA 工具指定提取模式如 RC 提取模式、指定延时计算模式等等来进行建立时间与保持时间分析;如果发生时序违例,那么则返回上一层设计,通过修改设计等等使其满足时序要求,从而达到时序收敛,通常,时序违例在不同的阶段有着不同的数目,如下所示

时序违例在不同的阶段的不同数目

7. 布线 ROUTING:指的是在满足工艺规则和布线层数限制、线宽、线间距限制和各线网可靠绝缘的电性能约束的条件下,根据电路的连接关系将各单元和 IO Pad 用互连线 Interconnect 连接起来;通俗地讲,就是将 Placement 摆放后的模块连接起来,Trial Route,实验布线,是一种快速的全局布线,Special Route,特殊布线,简称 SRoute,连接 Power Structure 的 Router,NanoRoute,真实布线,是一种 Smart Routing,大致分为 Global Route(全局走线)和 Detail Route(详细走线)。 PR 的 EDA 工具如 Synopsys 的 IC Compiler、Cadence 的 SoC Encounter 和 Innovus

8. 信号完整性 SIGNAL INTEGRITY:指的是分析信号在传输路径上的质量,信号完整性主要表现在延迟、反射、串扰、时序、振荡等几个方面

9. 金属填充 METAL FILL:指的是在设计中添加金属线形状以满足 Foundary 厂金属密度规则的过程,如 Dummy Metal,另外,还有 Filler 的插入,如 Pad Filler 和 Cell Filler;Filler 指的是标准单元库和 I/O Pad 库中定义的与逻辑无关的填充物,用来填充标准单元和标准单元之间、I/O Pad 和 I/O Pad 之间的间隙

10. 物理验证 PHYSICAL VERIFICATION:主要有连线 Connectivity、金属密度 Metal Density、几何形状 Geometry、过程天线 Process Antenna 等一些验证要素,DRC(Design Rules Check)是对芯片版图中的各层物理图形进行设计规则检查; LVS(Layout VS Schematic)是为了检查版图文件功能与原有电路设计功能的一致性,从而将版图与网表进行比较

11. 流片 SIGNOFF:指的是成功完成 IC 设计的所有检查和验证的一个标志


🌏 三、PDF 获取方式

关注 新芯设计 公众号,发送关键词 后端实现文档 即可

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