生物化学 电阻抗成像OpenEIT 番外篇 EIT公式

文章介绍了电阻抗断层扫描(EIT)技术,一种利用无害电流探测目标内部电导率分布的成像方式。由于其逆问题的非线性和不适定性,需要正则化处理。D-bar方法作为先进的直接重建算法,被详细讨论,包括其变体和数值实现。该方法解决了基于优化的变分正则化方法的局部极小问题。
摘要由CSDN通过智能技术生成

EIT简介

        摘要电阻抗断层扫描(EIT)是一种成像方式,使用无害的电流探测患者或物体。电流通过放置在靶表面上的电极馈送,数据由在电极处测量的电压组成,这些电压由一组线性独立的电流注入模式产生。EIT旨在恢复目标内部电导率的内部分布。EIT图像形成任务的逆问题是非线性和严重不适定的,因此对建模误差和测量噪声敏感。因此,需要对反演过程进行正则化。
        然而,传统的基于优化的变分正则化方法由于其非线性,往往存在局部极小问题。这就是正则化直接(非迭代)方法对EIT的吸引力所在。最先进的直接EIT算法是基于复杂几何光学解决方案和非线性傅里叶变换的D-bar方法。综述了D-bar方法的变体和最新发展,并解释了它们的实际数值实现。

  • 对于L个电极,施加L−1个线性独立的电流模式以构成数据集中的一个帧,并且Dirichlet到Neumann映射将如下所述进行计算。

2. EIT公式

u γ = σ + i ω ϵ \gamma = \sigma+ i \omega \epsilon γ=σ+ϵ
二维单连通域电势复电导率
假设(准静态电磁场 )
  • 电流不变假设
  • 电压激励不变假设
  • 电导率标量化(不考虑各项异性,假定 γ \gamma γ为实数,既只有电导率未知)
前提(麦克斯韦方程组,可能有些描述不严谨,但方便理解与记忆)
积分形式
  • 电磁感应定律:回路中感应电动势的大小与磁铁移动速度(磁通量对时间导数)正比
    ( 非静电力把正电荷从负极板移到正极板时要对电荷做功,这个做功的物理过程是产生电源电动势的本质 , L 为环路 ) ∮ L E ⋅ d l = − d d t ∬ S B ⋅ d s ( 通过 S 的磁通量 ) \color{red}(非静电力把正电荷从 负极 板移到正极板时要对 电荷 做功,这个做功的物理过程是产生电源电动势的本质\\,L为环路)\color{black}\oint_{L}E\cdot dl= -\frac{d}{dt} \color{red} \iint_{S}B\cdot ds ( 通过S的磁通量 ) (非静电力把正电荷从负极板移到正极板时要对电荷做功,这个做功的物理过程是产生电源电动势的本质L为环路)LEdl=dtdSBds(通过S的磁通量)

  • 安培定律 (电流和变化的电场在空间上散射磁场,电场随时间变化会在空间上散射磁场)

∮ L B ⋅ d l = μ 0 I ( 电流 , 均匀移动的电子 ) + μ 0 ϵ 0 d d t ∬ S E ⋅ d s \color{red} \color{black}\oint_{L}B\cdot dl=\mu_0 I(电流,均匀移动的电子)+\mu_0 \epsilon_0 \frac{d}{dt} \color{red} \iint_{S}E\cdot ds LBdl=μ0I(电流,均匀移动的电子)+μ0ϵ0dtdSEds

  • 类似用布包上灯,的光线个数不变定律(单连通区域)

∯ S E d s = Q ( 电荷量 ) ϵ 0 ( 真空介电常数 ) ( 某个和电荷量有关的常数 ) \oiint_{S} E ds = \frac{Q(电荷量)}{\epsilon_0 (真空介电常数)}(某个和电荷量有关的常数) SEds=ϵ0(真空介电常数)Q(电荷量)(某个和电荷量有关的常数)

  • 不存在单磁体,所以磁感线进出相抵消(单连通区域)
    ∯ S B d s = 0 \oiint_{S} B ds = 0 SBds=0
磁导率 说明,磁场强度H,磁感应强度(磁激发) B = μ 0 H \color{red}B\color{black}=\mu_0 H B=μ0H,真空磁导率很小
介电常数 说明,电场强度E,电感应强度(电激发) D = ε 0 E D=ε_0\color{red}E\color{black} D=ε0E,真空电导率很小

在这里插入图片描述

微分形式

在这里插入图片描述

推导

电导率(为电阻率ρ的倒数) σ = J ( 电流密度 ) E ( 电场强度 ) \sigma = \frac{J(电流 密度)}{E(电场 强度)} σ=E(电场强度)J(电流密度)
主要的方程
  • 1.在准静态电磁场,电流密度不随时间改变,电场强度E =U/d (V/m或N/C)
    ∇ J = 0 , E = − ∇ u \nabla J =0,E =-∇ u J=0E=u

因为 ∇ J = 0 \nabla J =0 J=0, ∇ ( σ E ) = 0 \nabla (\sigma E) =0 (σE)=0 ∇ ( σ ∇ u ) = − 0 \nabla (\sigma ∇ u) =-0 (σu)=0,所以

∇ ⋅ ( σ ( x , y ) ∇ u ( x , y ) ) = 0 , ( x , y ) ∈ Ω ( 二维的 ) ∇ · (\sigma(x, y)∇u(x, y)) = 0, (x, y) ∈ Ω(二维的) (σ(x,y)u(x,y))=0,(x,y)(二维的)

边界条件

u ( x , y ) = f ( x , y ) 电压 , ( x , y ) ∈ ∂ Ω u(x, y) = f(x, y)电压, (x, y) ∈ ∂Ω u(x,y)=f(x,y)电压,(x,y)

σ ( x , y ) ∂ u / ∂ ν ( x , y ) = j ( x , y ) 电流, ( x , y ) ∈ ∂ Ω, v 是边界法线方向 \sigma(x, y) ∂u /∂ν (x, y) = j(x, y)电流, (x, y) ∈ ∂Ω,v是边界法线方向 σ(x,y)u/ν(x,y)=j(x,y)电流,(x,y)v是边界法线方向

CG

电阻抗成像重构算法研究论文
http://www.siltanen-research.net/publ/Dbar_demystified.pdf
https://www.sce.carleton.ca/faculty/adler/publications/2019/hamilton-2019-compare-d-bar.pdf
偏微分中的H1/2空间是什么意思

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### 回答1: 阻抗成像正问题是一种通过对待测物体进行流注入和压测量来确定物体内部导率分布的技术。对于该问题,Matlab可以用来编写一个程序来模拟并解决问题。 首先,在编写程序之前,需要了解该问题的数学模型。阻抗成像正问题通常采用有限元法进行求解,其数学模型可以用以下方程表示: ∂(σ∇u)/∂t + ∇·(σ∇u) = 0,其中u为势,σ为导率 根据该方程可以建立数值方法来求解: 1. 首先,将待测物体离散化为有限个小的元素。 2. 对于每个元素,计算它的导率。通常采用简化的模型假设每个元素内部导率均匀。 3. 对于每个元素,基于其导率计算它的刚度矩阵。 4. 对于每个元素,基于其导率计算它的底数向量。 5. 将所有元素的刚度矩阵和底数向量组合成一个线性方程组,并通过高斯消元法或者迭代法求解。 6. 求解得到的线性方程组的解即为待测物体内部的势分布。 7. 根据势分布计算流密度和阻抗。 基于该模型,可以编写一个Matlab程序来模拟和解决阻抗成像正问题。程序需要实现以上步骤,并且需要适当考虑数值稳定性和精度等问题。此外,还需要进行一些后处理,例如对结果进行可视化和解释等等。 总之,阻抗成像正问题是一种常见的逆问题,Matlab可以用来编写模拟和解决该问题的程序,并得到势、流密度和阻抗等物理量的分布。 ### 回答2: 阻抗成像(impedance imaging)正问题是指基于流注入极,测量极之间压变化来确定物体的内部阻抗分布情况的问题。在matlab程序中,需要进行以下步骤: 1.建立有限元模型:使用程序创建并导入物体的有限元模型,并设置极的位置和流注入方向。 2.计算位: 根据物体的阻抗分布情况,使用有限元分析(如前向问题)计算极之间的位差。 3.添加噪声: 由于真实的位差测量难以完全避免噪声,因此在程序中需要添加噪声来模拟实际位测量。 4.建立反问题:将位差与阻抗进行反推,形成反问题,这是阻抗成像最重要的一步。 5.正则化:实际阻抗成像中,我们无法从位差得到一个精确的阻抗分布图,因此需要进行正则化处理,以克服不可逆性和噪声影响。 6.图像重构:最后,图像重构即是对正则化处理后的阻抗分布图进行插值和映射,得到最终的阻抗成像图像。 阻抗成像正问题matlab程序的关键在于建立精确的有限元模型和对反问题的处理。优化模型和算法,保证程序能够准确地输出阻抗成像结果,对未来的阻抗成像应用有很大的推进作用。 ### 回答3: 阻抗成像(Electrical Impedance Tomography,EIT)是一种非侵入式的成像技术,它可以通过将极固定在物体表面上并对物体注入微弱的流,来获取体内不同位置的阻抗信息,进而推断出物体内部的组织结构和分布情况。 阻抗成像正问题,是指已知流注入位置和相应的测量压,通过计算和反演算法,推断出物体内部的阻抗分布情况。在matlab中,可以使用有限元方法(Finite Element Method,FEM)来解决阻抗成像正问题。其具体步骤如下: 1. 建立模型:利用CAD软件等工具,根据物体的几何形状和物理特性,建立物体的三维模型,并划分成有限个单元。 2. 定义边界条件:根据极的位置和注入流的特性,定义边界条件。 3. 求解场:利用FEM方法和Maxwell方程,求解出场分布,得到每个单元的势差。 4. 计算阻抗:根据欧姆定律和路理论,将位差和流通过每个单元内的阻碍,计算出每个单元的阻抗。 5. 反演重建:利用反演算法,将阻抗结果反推回物体内部的组织结构和分布情况。 在具体编写MATLAB程序时,需注意以下注意点: 1. 建模时精度的选择,单元数少会降低计算量,但会导致误差偏大。 2. 边界条件的设定要准确,包括注入流强度、极位置等。 3. FEM方法的选取,要选择适合本问题的方法。 阻抗成像是一种成像实用前景较广的分析方法。
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