DDR ECC的使用

DDR ECC的使用

DDR注入错误测试
DDR先刷一遍0，ECC_STATUS，ECC_ON_OF初始化为0，数据注入错误，写DDR，读DDR。
ECC_STATUS
该寄存器保存有关可纠正和不可纠正错误发生的信息。状态位独立地设置为1，表示每种错误类型的第一次发生。状态位可以通过向相应的位位置写入1来清除，但不能通过寄存器写入设置为1。ECC状态寄存器独立于ECC使能中断寄存器运行。

ECC_EN_IRQ
该寄存器确定ECC状态寄存器中的CE_STATUS和UE_STATUS位的值是否触发中断输出信号。如果CE_EN_IRQ和UE_EN_IRQ都被启用，则中断信号的值为CE_STATUS和UE_STATUS位之间的逻辑或。

ECC_ON_OF
ECC开/关控制寄存器允许应用程序启用或禁用ECC检查。设计参数C_ECC_ONOFF_RESET_VALUE确定ECC的启用/禁用设置的复位值。当禁用时，读取操作的ECC检查被禁用，但写入操作的ECC生成仍然有效。

CE_CNT
该寄存器计算可纠正错误发生的次数，可以使用寄存器写入清除或预设为任何值。当计数器达到最大值时，它不会翻转，而是停止递增并保持在最大值。计数器的宽度由C_CE_COUNTER_WIDTH参数定义，固定为8位。

CE_FFA[31:0]
该寄存器存储第一次发生可纠正错误的访问的地址（位[31:0]）。当ECC状态寄存器中的CE_STATUS位被清除时，此寄存器重新启用，以存储下一个可纠正错误的地址。复位后启用失败地址的存储。

CE_FFA[63:32]
注意：如果 C_S_AXI_ADDR_WIDTH < 33，那么这个寄存器将不会被使用。
这个寄存器存储了第一次出现可纠正错误的访问的地址（位[63:32]）。当ECC状态寄存器中的CE_STATUS位被清除时，这个寄存器会重新启用，以存储下一个可纠正错误的地址。在复位后启用失败地址的存储。

CE_FFD[31:0]
这个寄存器存储了第一次出现可纠正错误的访问的（已纠正的）失败数据（位[31:0]）。当ECC状态寄存器中的CE_STATUS位被清除时，这个寄存器会重新启用，以存储下一个可纠正错误的数据。在复位后启用失败数据的存储。

CE_FFD[63:32]
这个寄存器存储了第一次出现可纠正错误的访问的（已纠正的）失败数据（位[63:32]）。当ECC状态寄存器中的CE_STATUS位被清除时，这个寄存器会重新启用，以存储下一个可纠正错误的数据。在复位后启用失败数据的存储。

CE_FFE
这个寄存器存储了第一次出现可纠正错误的访问的ECC位。当ECC状态寄存器中的CE_STATUS位被清除时，这个寄存器重新启用，以存储下一个可纠正错误的ECC。复位后启用失败ECC的存储。
表1-34描述了当DQ_WIDTH = 72时寄存器位的使用情况。

UE_FFA[31:0]
这个寄存器存储了第一次发生不可纠正错误的访问的地址（位[31:0]）。当 ECC 状态寄存器中的 UE_STATUS 位被清除时，这个寄存器重新启用，以存储下一个不可纠正错误的地址。复位后启用失败地址的存储。

UE_FFA[63:32]
注意：如果 C_S_AXI_ADDR_WIDTH < 33，这个寄存器是未使用的。
这个寄存器存储了第一次出现不可纠正错误的访问的地址（位[63:32]）。当 ECC 状态寄存器中的 UE_STATUS 位被清除时，这个寄存器重新启用，以存储下一个不可纠正错误的地址。复位后启用失败地址的存储。

UE_FFD[31:0]
这个寄存器存储了第一次出现不可纠正错误的访问的（未纠正的）失败数据（位[31:0]）。当 ECC 状态寄存器中的 UE_STATUS 位被清除时，这个寄存器重新启用，以存储下一个不可纠正错误的数据。复位后，启用失败数据的存储。

UE_FFD[63:32]
这个寄存器存储了第一次发生不可纠正错误的访问的（未纠正的）失败数据（位[63:32]）。当ECC状态寄存器中的UE_STATUS位被清除时，这个寄存器重新启用，以存储下一个不可纠正错误的数据。复位后启用失败数据的存储。

UE_FFE
这个寄存器存储了第一次发生不可纠正错误的访问的ECC位。当ECC状态寄存器中的UE_STATUS位被清除时，这个寄存器重新启用，以存储下一个不可纠正错误的ECC。复位后启用失败ECC的存储。
表1-42描述了当DQ_WIDTH = 72时寄存器位的使用情况。

FI_D0
这个寄存器用于在写入内存的数据（Bits[31:0]）中注入错误，可以用于测试错误纠正和错误信号。寄存器中设置的位会切换相应的数据位（字0或Bits[31:0]），而不影响写入的ECC位。注入故障后，故障注入数据寄存器会自动清零。
该寄存器只有在Vivado IP目录中的MIG设计中，当C_ECC_TEST = “ON” 或 ECC_TEST_FI_XOR = “ON” 且 ECC = “ON” 时才会实现。
注入故障应该在软件中的一个关键区域进行；也就是说，写入这个寄存器和随后写入内存的操作不能被中断。

必须特别考虑 FI_D0、FI_D1、FI_D2 和 FI_D3，以便仅引入单一错误条件。
FI_D1
这个寄存器用于在写入内存的数据（位[63:32]）中注入错误，可以用于测试错误纠正和错误信号。寄存器中设置的位会切换相应的数据位（字1或位[63:32]）的后续写入内存的数据，而不影响写入的ECC位。注入故障后，故障注入数据寄存器会自动清零。这个寄存器只有在Vivado IP目录中的MIG设计中，如果C_ECC_TEST = “ON”或ECC_TEST_FI_XOR = “ON”且ECC = “ON”，才会实现。注入故障应该在软件中的一个关键区域执行；也就是说，写入这个寄存器和后续写入内存的操作不能被中断。

FI_D2
注意：这个寄存器只有在DQ_WIDTH = 144时才使用。
这个寄存器用于在写入内存的数据（位[95:64]）中注入错误，可以用于测试错误纠正和错误信号。寄存器中设置的位会切换相应的数据位（字2或位[95:64]）的后续数据写入内存，而不影响写入的ECC位。注入故障后，故障注入数据寄存器会自动清零。
这个寄存器只有在Vivado IP目录中的MIG设计中，当C_ECC_TEST = “ON”或ECC_TEST_FI_XOR = “ON”且ECC = “ON”时才实现。
注入故障应该在软件中的一个关键区域执行；也就是说，写入这个寄存器和随后的写入内存的操作不能被中断。

特别注意，在 FI_D0、FI_D1、FI_D2 和 FI_D3 之间必须给予特殊考虑，以便只引入单个错误条件。
FI_D3
这个寄存器只有在DQ_WIDTH = 144时才使用。
这个寄存器用于在写入内存的数据（位[127:96]）中注入错误，可以用于测试错误纠正和错误信号。寄存器中设置的位会切换相应的数据位（字3或位[127:96]）的后续写入内存的数据，而不影响写入的ECC位。注入故障后，故障注入数据寄存器会自动清除。
该寄存器只有在C_ECC_TEST = “ON”或ECC_TEST_FI_XOR = “ON”且ECC = “ON”时，在Vivado Design Suite中的MIG设计中才实现。
注入故障应该在软件中的一个关键区域进行；也就是说，写入这个寄存器和随后写入内存的操作不能被中断。

FI_ECC
这个寄存器用于在写入内存的生成的ECC中注入错误，可以用于测试错误纠正和错误信号。寄存器中设置的位会切换下一次写入内存的数据的相应的ECC位。注入故障后，故障注入ECC寄存器会自动清零。
这个寄存器只有在Vivado IP目录中的MIG设计中，C_ECC_TEST = “ON” 或 ECC_TEST_FI_XOR = “ON” 且 ECC = “ON” 时才会实现。
注入故障应该在软件中的一个临界区域进行；也就是说，写入这个寄存器和随后的写入内存的操作不能被中断。
表1-48描述了当DQ_WIDTH = 72时，寄存器位的用法。