CMOS芯片制造全工艺流程(后端基础第一篇)

芯片制造全工艺流程详情

我们每天运行程序的芯片是这样造出来的,放大后的芯片机构,无与伦比的美,在如此微观世界,人类科技之巅。

芯片一般是指集成电路的载体,也是集成电路经过设计、制造、封装、测试后的结果,通常是一个可以立即使用的独立的整体。如果把中央处理器CPU比喻为整个电脑系统的心脏,那么主板上的芯片组就是整个身体的躯干。对于主板而言,芯片组几乎决定了这块主板的功能,进而影响到整个电脑系统性能的发挥,芯片组是主板的灵魂。

那么要想造个芯片,首先,你得画出来一个长这样的玩意儿给Foundry (外包的晶圆制造公司)▼

再放大▼

我们终于看到一个门电路啦! 这是一个NAND Gate(与非门),大概是这样▼

A, B 是输入, Y是输出

其中蓝色的是金属1层,绿色是金属2层,紫色是金属3层,粉色是金属4层。那晶体管(“晶体管”自199X年以后已经主要是 MOSFET, 即场效应管了 ) 呢?仔细看图,看到里面那些白色的点吗?那是衬底,还有一些绿色的边框?那些是Active Layer (也即掺杂层)。

Foundry是怎么做的呢? 大体上分为以下几步:

首先搞到一块圆圆的硅晶圆, (就是一大块晶体硅, 打磨的很光滑, 一般是圆的)

图片按照生产步骤排列. 但是步骤总结单独写出.

1、湿洗(用各种试剂保持硅晶圆表面没有杂质)

2、光刻(用紫外线透过蒙版照射硅晶圆, 被照到的地方就会容易被洗掉, 没被照到的地方就保持原样. 于是就可以在硅晶圆上面刻出想要的图案. 注意, 此时还没有加入杂质, 依然是一个硅晶圆. )

3、 离子注入(在硅晶圆不同的位置加入不同的杂质, 不同杂质根据浓度/位置的不同就组成了场效应管.)

4.1、干蚀刻(之前用光刻出来的形状有许多其实不是我们需要的,而是为了离子注入而蚀刻的。现在就要用等离子体把他们洗掉,或者是一些第一步光刻先不需要刻出来的结构,这一步进行蚀刻).

4.2、湿蚀刻(进一步洗掉,但是用的是试剂, 所以叫湿蚀刻)—— 以上步骤完成后, 场效应管就已经被做出来啦,但是以上步骤一般都不止做一次, 很可能需要反反复复的做,以达到要求。

5、等离子冲洗(用较弱的等离子束轰击整个芯片)

6、热处理,其中又分为:

6.1 快速热退火 (就是瞬间把整个片子通过大功率灯啥的照到1200摄氏度以上, 然后慢慢地冷却下来, 为了使得注入的离子能更好的被启动以及热氧化)

6.2 退火

6.3 热氧化 (制造出二氧化硅, 也即场效应管的栅极(gate) )

7、化学气相淀积(CVD),进一步精细处理表面的各种物质

8、物理气相淀积 (PVD),类似,而且可以给敏感部件加coating

9、分子束外延 (MBE) 如果需要长单晶的话就需要。

10、电镀处理

11、化学/机械表面处理

12、晶圆测试

13、晶圆打磨就可以出厂封装了。

再通过图示来一步步看▼

1、上面是氧化层, 下面是衬底(硅)——湿洗

2、一般来说, 先对整个衬底注入少量(10^10 ~ 10^13 / cm^3) 的P型物质(最外层少一个电子),作为衬底——离子注入

3、先加入Photo-resist, 保护住不想被蚀刻的地方——光刻

4、上掩膜! (就是那个标注Cr的地方。中间空的表示没有遮盖,黑的表示遮住了。) —— 光刻

5、紫外线照上去,下面被照得那一块就被反应了——光刻

6、撤去掩膜——光刻

7、把暴露出来的氧化层洗掉, 露出硅层(就可以注入离子了)——光刻

8、把保护层撤去. 这样就得到了一个准备注入的硅片. 这一步会反复在硅片上进行(几十次甚至上百次)——光刻

9、然后光刻完毕后, 往里面狠狠地插入一块少量(10^14 ~ 10^16 /cm^3) 注入的N型物质就做成了一个N-well (N-井)——离子注入

10、用干蚀刻把需要P-well的地方也蚀刻出来,也可以再次使用光刻刻出来——干蚀刻

11、上图将P-型半导体上部再次氧化出一层薄薄的二氧化硅—— 热处理

12、用分子束外延处理长出的一层多晶硅,该层可导电——分子束外延

13、进一步的蚀刻,做出精细的结构。(在退火以及部分CVD)—— 重复3-8光刻 + 湿蚀刻

14、再次狠狠地插入大量(10^18 ~ 10^20 / cm^3) 注入的P/N型物质,此时注意MOSFET已经基本成型——离子注入

15、用气相积淀 形成的氮化物层 —— 化学气相积淀

16、将氮化物蚀刻出沟道——光刻 + 湿蚀刻

17、物理气相积淀长出 金属层——物理气相积淀

18、将多余金属层蚀刻。光刻 + 湿蚀刻重复 17-18 次长出每个金属层。

附图的步骤在每幅图的下面标注,一共18步。

最终成型大概长这样:

其中,步骤1-15 属于 前端处理 (FEOL),也即如何做出场效应管。步骤16-18 (加上许许多多的重复) 属于后端处理 (BEOL),后端处理主要是用来布线。最开始那个大芯片里面能看到的基本都是布线!一般一个高度集中的芯片上几乎看不见底层的硅片,都会被布线遮挡住。

SOI (Silicon-on-Insulator) 技术:

传统CMOS技术的缺陷在于:衬底的厚度会影响片上的寄生电容,间接导致芯片的性能下降。 SOI技术主要是将 源极/漏极 和 硅片衬底分开,以达到(部分)消除寄生电容的目的。

传统:

SOI:

制作方法主要有以下几种(主要在于制作硅-二氧化硅-硅的结构,之后的步骤跟传统工艺基本一致。)

1. 高温氧化退火:

在硅表面离子注入一层氧离子层

等氧离子渗入硅层, 形成富氧层

高温退火

成型

或者是

2. Wafer Bonding(用两块! )不是要做夹心饼干一样的结构吗? 爷不差钱! 来两块!

对硅2进行表面氧化

对硅2进行氢离子注入对硅2进行氢离子注入

翻面

将氢离子层处理成气泡层将氢离子层处理成气泡层

切割掉多余部分切割掉多余部分

成型 + 再利用

光刻

离子注入离子注入

微观图长这样:

再次光刻+蚀刻

撤去保护, 中间那个就是Fin撤去保护, 中间那个就是Fin

门部位的多晶硅/高K介质生长门部位的多晶硅/高K介质生长

门部位的氧化层生长门部位的氧化层生长

长成这样

源极 漏极制作(光刻+ 离子注入)

初层金属/多晶硅贴片

蚀刻+成型

物理气相积淀长出表面金属层(因为是三维结构, 所有连线要在上部连出)

机械打磨(对! 不打磨会导致金属层厚度不一致)

成型! 成型!

### 半导体 BEOL 后端工艺流程和技术 BEOL(Back End of Line)是指芯片制造中的后道工序,主要涉及金属互连层的形成以及后续封装前的处理。这一阶段的目标是在已经完成晶体管和其他器件形成的晶圆上构建复杂的金属布线网络,从而实现不同元件之间的电气连接。 #### 1. 基础概念 BEOL 工艺通常发生在 FEOL(Front End of Line,前道工艺)之后,在此阶段,逻辑门、存储单元等基本电路组件已经被定义完毕。随后进入 BEOL 阶段的主要目的是通过多层金属化技术建立这些组件间的互联结构[^3]。 #### 2. 主要工艺步骤 以下是 BEOL 的几个核心环节: - **介电层沉积** 在每层金属之间需要沉积一层绝缘材料作为介质层,以防止短路现象发生。常用的低 k 材料可以有效降低寄生电容效应,提高信号传输速度和减少功耗。 - **化学机械平坦化 (CMP)** CMP 是一种用于去除多余铜或其他金属残留物的技术手段,确保表面高度平整以便于下一次光刻操作顺利实施。它对于维持精确尺寸控制至关重要[^1]。 - **双镶嵌制程 (Dual Damascene Process)** 这种方法被广泛应用于现代 CMOS 制造当中,用来创建细密而可靠的互连线。具体来说,先利用深紫外光刻技术刻画出沟槽图案;接着填充钨或者更先进的铜材质来构成实际线路。 - **阻挡层与种子层设置** 当采用铜作为导体时,由于其容易扩散至周围硅基底造成损害,因此必须预先铺设钛氮化物之类的阻挡薄膜阻止这种迁移行为的发生。与此同时还会施加薄薄的一层辅助生长膜即所谓的“种子层”,促进后续电镀过程均匀覆盖整个区域。 - **通孔制作(Via Formation)** 不同层次间相互联系依靠垂直方向上的小型开口——也就是所谓“via”来达成。它们允许电流能够跨越多个平面传递数据信息给目标位置节点。 #### 3. 关键挑战 随着摩尔定律持续推进,特征尺度不断缩小,这给 BEOL 提出了诸多严峻考验: - 如何应对日益增长的电阻率问题? - 怎样克服因间距压缩带来的串扰干扰难题? - 使用何种新型材料体系替代传统铝/钨方案? 这些问题都需要持续创新研究加以解决。 ```python def beol_process(): """ A simplified representation of the key steps involved in Back End Of Line processing. This function outlines major stages but does not include detailed implementation specifics due to complexity and variability across different technologies/foundries. Returns: list: List containing main phases within a typical BEOL flow. """ process_steps = [ 'Dielectric Layer Deposition', 'Chemical Mechanical Polishing (CMP)', 'Dual Damascene Processing', 'Barrier & Seed Layers Application', 'Via Formation' ] return process_steps print(beol_process()) ```
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