65nm工艺下MOM电容详解与蒙特卡洛仿真及calibre xRC

提纲

1、SMIC65LL工艺MOM电容工艺详解

2、电容失配模型(蒙特卡洛模型及其仿真方法概述)

3、Calibre SVRF介绍

  3.0 xRC和xL

  3.1 xcell和hcell

  3.2 extraction type

  3.3 PEX option

4、MOM电容阵列寄生提取策略

 

正文

一、MOM电容

 如图,一般三端MOM是做在N阱里,这样能有效的隔离衬底噪声。周围一圈蓝色用来做N阱接触,通过SN注入+AA有源区,形成一个可以做欧姆接触的环形区,顶层用M1和CT将该N阱接地。

在中间区域,M3,M4,M5在每一层都做成叉指形式,这样形成了三层金属的寄生电容CC(coupled capacitor)。

图左可以看到除了mask用到的层(drawing),还有一些标识层(mk3,mk4),图上的×符号即是此层,用于在版图中标识电容器件。

一般认为,在深亚微米下MOM是更安全的(随着工艺的演进,金属层之间距离越来越小,氧化物击穿的可能性增加),而且由于多条金属finger的叉指结构,工艺准确性也更好。

二、蒙特卡洛模型及仿真(IC6+ADE XL)

电容制造产生的工艺偏差被抽象为一个正态分布,且其标准差和电容面积的平方根成反比。在此工艺中,1个最小电容29f的标准差为0.005,也就是说对于一个290f的电容,其标准差为0.005/sqrt(10)。MATLAB中可用normrand函数建模。

一般地,整个ADC进行蒙特卡洛仿真是不太现实的,可以对局部模块如比较器,运放进行仿真。进而可验证比较器的失调是否满足要求,运放的增益、失调电压是否具有工艺稳定性。具体步骤简要描述:

①搭建仿真电路并启动ADE XL:

 ②初次打开ADE XL会让创建一个new view,点击确定后在如下界面中单击“click to add test”指定仿真电路图,点击确定,如下图。

 ③配置输出:蒙特卡洛仿真本质上是一种参数扫描,因此需要设置输出为一种标量。例如,在AC结果里,“频率为10hz时的输出增益”是标量,“增益”不是。在tran仿真中,“VOP点在500ns时的电压值”是标量,“VOP电压值”不是。这样,假如经过500run,将得到一个柱状图。

④开始仿真,需要做如下配置 :

⑤开始仿真/一些可能遇到的问题/如何恢复

 点击绿色按钮即可仿真,如果仿真失败,去②中打开的ADE XL里设置mc模型。

下次仿真时,打开之前的ADEXL view,单击左侧箭头位置,即可调出ADE XL界面以重新设置仿真精度和观测值。

 

三、Calibre xRC介绍

以下内容来源于 svrf manual(standard verification rule format)

3.0 常用的是xRC,主要提取RC参数,还有xL,用于射频中提取电感。

3.1 hcell意为hierarchy cell,定义hcell之后,提取寄生之后会把被定义的cell提取成一个模块,而其他的模块则被提成了散乱的寄生网表。

xcell类似于LVS BOX,意为屏蔽掉寄生提取,定义为xcell的模块将不会被提取寄生。xcell规则文件的写法很简单,例如:

mom35 mom53,这句话即说明,电路里mom35和版图里mom53是对应的,不要提取寄生参数。

另外,需要在PEX规则文件里加入PEX IDEAL CELL YES语句并选择以gate level提取,以使能xcell文件。同时,xcell使用时要同时打开hcell。

3.2 extraction type

常用的类型有,R+C,R+C+CC,C+CC。首先强调,对于MOM的提取寄生,这些都是不靠谱的!具体后面会描述。

R+C+CC将所有的寄生电容,寄生电阻,耦合电容都提取一遍,R+C将耦合电容折算到寄生电容里,怎么折算的呢?将两个端口的寄生直接折算到两个端口分别的对地电容上,这样做问题不大,但是对于一个100f的mom,耦合电容就是100f,折算之后,电容两端凭空多出两个100f的对地电容!C+CC只提取电容,不考虑电阻。MOM的具体提法见第四节。

3.3 PEX option

常用的一些option可以帮助减小网表规模,加速仿真。介绍如下:

reduction ticer:根据手册的描述,该处理对分布式电容进行缩减合并。当然,如果电路的工作频率要求越高,可以缩减的RC就越少。

reduction CC:CC耦合电容的缩减有两种模式,absolute和ratio,前者定义xx fF以下的耦合电容被折算到两端,后者定义为:如果A,B之间电容50f,那么小于50f*ratio的耦合电容将被折算到两端。继续强调,MOM提取时不可用!

reduction analog/digital:指定造成的延迟和噪声小于设定值的RC器件可以被折算。

reduction minCap/minRes:对于电阻,设定小于xx ohm的电阻被合并combine(串并联到集中电阻上),小于xx ohm的电阻被短路short,前者对总体的延迟影响较小;对于电容,不同点在于,小于xx fF的电容将被移出而不是短路,这符合电容容抗的定义,电容越小,越近似于开路。

四、MOM电容阵列的寄生提取

这是一个很失败的二进制电容阵列,单位电容为1f的M3-M5,为了减小走线带来的寄生,采用了M2和M6走线。然而,最大的问题是单位电容之间距离太近,其不可忽视的耦合效果对电容的二进制比例造成了很大影响。

这种结构下,本征电容是不可靠的,R+C也是不可靠的,必须用R+C+CC提取全部的电容,包括电容内部的耦合电容,电容之间的耦合电容。R+C+CC提出的网表格式如下:

两个include部分是寄生参数,然而本征电容还在...比较靠谱的做法是删掉本征即可。

另外,R+C+CC会提取出一个大规模的网表,为了减小电路规模,可以采用3中介绍的减小RES的策略。

在整体电路的仿真中,可以分别提取整体电路和电容阵列的寄生,提取前者时将电容阵列用xcell屏蔽掉并采用R+C提取,提取后者时采用R+C+CC+res reduction,这样能在保证准确度的情况下最大限度的减小仿真规模。

 

BPSK(二进制相移键控)是一种常见的数字调制方式,在传输过程中,它通常会受到噪声的影响。在加性白高斯噪声(AWGN)信道下进行BPSK调制的通信系统中,互信息是对系统性能的重要评估指标。 互信息表示了信道输入和输出之间的关系,它的值越大,表示传输的信息量越高,系统性能越好。由于互信息的理论计算较为复杂,通常使用蒙特卡洛方法进行仿真实验来近似计算互信息。 互信息蒙特卡洛原理是通过随机生成符合BPSK调制的输入序列,并在AWGN信道下进行传输,然后利用接收到的输出序列与输入序列进行对比,计算它们之间的相关性来估计互信息的值。这个过程通过多次重复实验,并对实验结果进行平均,得到一个较为准确的互信息估计值。 在互信息蒙特卡洛仿真中,我们可以调整不同的信噪比(SNR)来模拟不同信道质量下的性能情况。通过增加SNR,可以提高信号的强度相对于噪声,从而降低误码率,并提高互信息的值。仿真结果可以用图表、曲线来表示,通常我们可以绘制SNR与互信息的关系图来进行分析。 总结起来,AWGN信道下的BPSK调制的互信息蒙特卡洛原理是通过随机生成输入序列,并在AWGN信道下进行传输,利用接收到的输出序列与输入序列的相关性来估计互信息的值。通过蒙特卡洛仿真可以分析不同信噪比条件下互信息的变化情况,从而评估系统的性能。
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