DeCap Cell -----Decoupling Capacitor(解耦电容)

在CMOS电路运行过程中，信号的不断变化可能会导致电源电压的不稳定。这可以视为稳定的直流电压(DC)上加了一个交流(AC)干扰电压。

如果在电源的Power和Ground之间接入一个适当大小的capacitor，利用capacitor的通交流阻直流的特性，可以平缓电源电压的波动。这个电容被称为Decoupling Capacitor(解耦电容)。

ASIC设计中用来实现这个目的的cell被称为Decap Cell。由于它自身没有逻辑功能，属于physical only cell的一种。

Decap Cell的内部实现很显然就是一个连接Power和Ground的capacitor。

Decap Cell通常放置在row的两端，或者hard macro的附近。

下图是一个Decap Cell和Tap Cell的组合体，通常可以用作Endcap Cell。

上方的绿色矩形是poly，和中间红色的M1组成所谓的Diffusion Capacitor（N Well Capacitor的一种实现）。这个capacitor的两端分别和Power和Ground相连。

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DeCap是被用来降低电源网络上的噪声，DeCap电容类似于导线上的蓄水池，用来减小IR drop产生的电源噪声。

Decap这是一种特殊的Filler cell。当电路中大量单元同时翻转时会导致冲放电瞬间电流增大，使得电路动态供电电压下降或地线电压升高，引起动态电压降，俗称IR-drop。为了避免IR-drop对电路性能的影响，通常在电源和地线之间放置由MOS管构成的电容，这种电容被称为去耦电容或者去耦单元，它的作用是在瞬态电流增大，电压下降时向电路补充电流以保持电源和地线之间的电压稳定，防止电源线的电压降和地线电压的升高。

decap的数量或比例增大，主要造成leakage power的增加，对于动态功耗影响不大，但有利于dynamic IR，可以通过增加dynamic IR较重的区域decap数量来解dynamic IR violation。

参考链接：

数字ASIC设计概要：DeCap Cell - 非是非

DeCap介绍 - 后端讨论区 - EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网) -

数字后端基本概念介绍<Decap Cell>-CSDN博客