一、晶圆键合设备的工作原理
1、 第一个晶圆面朝下置于晶圆对准设备的卡盘并传送到对准机内;
2、对准机内,晶圆在Z轴方向上移动直到被顶部的传输夹具真空吸附固定;
3、被传输夹具固定的第一个晶圆将成为后续对准工艺的基准,确定所有对准移动的起点;
4、每个晶圆的左右两边各有一个对准标记(标记的距离越大越好);
5、显微镜移动寻找对准标记并聚焦;
6、以面朝上的方式将第2个晶圆载入机台,与第1个晶圆面面相向;
7、第2个晶圆被真空吸附固定在位于可移动的对准台的卡盘上;
8、对准台沿x/y/方向运动或θ角旋转,查找第2个晶圆的对准标记并对准;
9、对准后底层晶圆提升到接触位置,并通过卡盘边缘卡箍将晶圆固定。
二、对准过程响应的误差
移位误差:如果发现晶圆两边的对准标记均在X轴方向向里或向外发生偏移,那么晶圆存在移位误差。
原因:由步进点击步进距离设置不合理造成,造成图形在水平方向上发生偏移,偏移量可10μm。
楔形误差补偿(WEC-Wedge Error Compensation)原理:在底层晶圆向上移动过程中对其施加1000g的弹簧压力,以使二者保持平行。