晶圆键合对准机的原理与应用

本文介绍了晶圆键合设备的工作原理,包括晶圆的定位与固定,对准过程中的误差及其补偿技术。对准技术分为实时图像对准和预先存储的对准标记对准,采用不同的对准方法如顶部和底部对准,红外对准等。还讨论了晶圆传送夹具的设计和晶圆键合质量的检测,包括对准精度、键合强度和界面空隙的评估方法。
摘要由CSDN通过智能技术生成

一、晶圆键合设备的工作原理

1、 第一个晶圆面朝下置于晶圆对准设备卡盘并传送到对准机内;

2、对准机内,晶圆在Z轴方向上移动直到被顶部的传输夹具真空吸附固定;

3、被传输夹具固定的第一个晶圆将成为后续对准工艺的基准,确定所有对准移动的起点;

4、每个晶圆的左右两边各有一个对准标记(标记的距离越大越好);

5、显微镜移动寻找对准标记并聚焦;

6、以面朝上的方式将第2个晶圆载入机台,与第1个晶圆面面相向;

7、第2个晶圆被真空吸附固定在位于可移动的对准台的卡盘上;

8、对准台沿x/y/方向运动或θ角旋转,查找第2个晶圆的对准标记并对准;

9、对准后底层晶圆提升到接触位置,并通过卡盘边缘卡箍将晶圆固定。

二、对准过程响应的误差

移位误差:如果发现晶圆两边的对准标记均在X轴方向向里或向外发生偏移,那么晶圆存在移位误差。

原因:由步进点击步进距离设置不合理造成,造成图形在水平方向上发生偏移,偏移量可10μm。

楔形误差补偿(WEC-Wedge Error Compensation)原理:在底层晶圆向上移动过程中对其施加1000g的弹簧压力,以使二者保持平行。

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