【gmid】第三章 弱反型区 & Cdd自加载考虑 (3)

弱反型区 确定大小

超低功率传感器,功耗低,电流密度低,MOS管工作在弱反型区

在弱反型中,

g_m=\frac{I_D}{nU_T}

在这个表达式中,亚阈值斜率参数n只是沟道长度的弱函数,前提是L略大于最小长度(避免显著的DIBL)。从上图可以看出当L = 100~1000 nm时,(gm / ID)max几乎为常数。因此,在弱反型中所需的漏极电流与一阶栅长无关.

  • 如果没有其他约束,那么设计时候自然遵循最小面积,即最小器件宽度和长度。
  • 然而,这在模拟电路中通常不是一个好的选择。最小长度意味着低的本征增益,而小的栅极面积(W·L)会导致器件匹配不良和闪烁噪声
  • 对于真实的世界问题,我们通常需要调用这些附加约束中的一些来完成设计大小调整

  • 本征增益随着沟道长度的增加而显著增加
  • fT随着沟道长度的增加而下降

EX3.5 弱反型区,给定宽度约束情况下,确定size

要求

  • CL = 1 pF
  • ID = 0.8 n
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