OVITO使用（2）——缺陷分析进阶-如何分类统计晶界与晶内的缺陷

最新推荐文章于 2023-12-25 16:09:27 发布

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文章标签：学习

本文链接：https://blog.csdn.net/m0_64452471/article/details/130167731

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对于材料的抗辐照性能，有学者发现晶界起着缺陷吸收阱的作用[1]。为了探究晶界对缺陷的影响，我们常常需要将晶界处与晶内的缺陷分开统计，这时可以通过W-S分析法[2]配合布莱尔表达式[3] (Expression selection)实现。

具体操作步骤如下：

① 选用W-S法分析，通过布莱尔表达式将未离位原子(Occupancy==1)删去。

② 为了方便识别，通过布莱尔表达式(Expression selection)将间隙原子(Occupancy>1)和空位(Occupancy==0)重新着色，颜色可通过Assign color命令下的Color改变。

③ 确定晶界宽度，可参考文献[4]进行计算，这里通过ovito显示组成晶界结构原子的坐标，根据坐标范围进行粗略确定（通过CNA法观察选取的坐标范围是否完全覆盖晶界结构，若存在未选中的原子，可进行微调）。图中模型的晶界坐标范围为Position.Y>192.474 &&Position.Y<197.748。

④ 接第②步识别间隙原子/空位之后，通过布莱尔表达式(Expression selection)进一步选择晶界处的间隙原子(Position.Y>192.474 &&Position.Y<197.748 && Occupancy>1)和空位(Position.Y>192.474 &&Position.Y<197.748 && Occupancy==0)，并重新着色。

⑤ 为了方便观察可适当增大原子半径。

⑥ 通过Rendering导出成图或动画(注意动画保存选择gif或mp4格式)。

⑦ 输出数据绘制曲线图。选择File，点击Export File，选择存储路径，选择要输出的数据信息（这里Timestep代表时间步长，ExpressionSelection.count.2表示晶界与晶内总的间隙原子数，ExpressionSelection.count.3表示晶界与晶内总的空位数,ExpressionSelection.count.4表示晶界处的间隙原子数， ExpressionSelection.count.5对应晶界处的空位数，对数据进行加减可得出晶内的间隙原子和空位数），在导出数据要特别注意自己的数据所代表的物理含义，防止数据错配。