PCL：基于曲率下采样

1.介绍 

        曲率下采样是一种常用的点云处理技术，旨在减少点云数据的密度并保留重要的几何特征。通过计算点云中每个点的曲率信息，可以对曲率值进行阈值筛选，从而实现点云的下采样。本文将介绍曲率下采样的原理、应用以及相关参数。

1. 1原理

        曲率下采样的原理基于点云中的曲率信息。在点云中，曲率表示了曲面的弯曲程度，具有很强的几何意义。通过计算每个点的曲率，可以了解到该点所在的曲面的几何特征。曲率下采样通过设定曲率阈值，保留高曲率或低曲率的点，从而实现点云的下采样。

1.2.应用

曲率下采样在点云处理中有着广泛的应用，主要包括以下几个方面：

• 点云降噪：曲率下采样可以通过减少点云的数据密度来降低噪声的影响，从而提高点云的质量和准确性。

• 表面简化：在三维建模和图形渲染中，曲率下采样可以用来简化复杂曲面的表示，减少模型的复杂度，提高渲染效率。

• 特征提取：曲率下采样可以用来提取点云中的重要特征点，如高曲率点和低曲率点，用于后续的目标检测、配准等任务。

2.相关参数

在实际应用中，曲率下采样涉及到一些重要的参数，包括：

• 曲率阈值：决定了哪些点会被保留或丢弃。高于该阈值的点将被保留，低于该阈值的点将被丢弃。

• 搜索半径：用于计算每个点的曲率信息的邻域半径。较大的