1 简介
在许多数据采集(DAQ)系统中,对低电平输入信号进行精确测量是一个常见的设计难题。为了测量这些过程变量,许多类型的终端设备采用模拟传感器,如电阻温度检测器(RTD)、热电偶或电阻电桥。这些传感器通常会输出非常低的信号,这些信号需要在DAQ系统的本底噪声之上获得。此外,工程师可以增加增益充分使用ADC的满量程范围。在任何一种情况下,向任何模拟系统增加增益都需要一个放大器。与将任何原件引入电气系统一样,这些放大器会产生噪声。
2 输出与输入参考噪声
输出参考噪声,顾名思义是在ADC输出端测得的噪声。但是ADC规格书内通常提供的是ADC输入参考噪声
。与输出参考噪声不同,输入参考噪声是计算出来的,而不是测量出来的。对于没有集成PGA的ADC,输出参考噪声和输入参考噪声相等。
为什么ADC制造商指定噪声作为输入参考而不是输出参考?为了回答这个问题,它有助于创建一个等效电路噪声模型,方法是将ADC与其噪声分离成一个“无噪声”ADC,前面是一个与ADC输入参考噪声相等的电压源,如下图所示。
现在,当把一个真实信号输入到ADC中,很容易看出ADC噪声被描述为输入,因为这定义了系统的输入分辨率。实际上,输入信号与输入参考噪声“竞争”:如果信号的振幅大于输入参考噪声,您将能够观察到它;否则,信号将被掩埋在噪音中,你将无法观察到它。
最终,如果确定需要采集的最小输入信号,通过输入参考噪声可以快速的选定一款ADC。虽然这对于不带PGA的ADC来说不那么重要,因为输出参考噪声等于输入参考噪声,但是如果在信号通路中添加一个放大器,会发生什么?
3 ADC的输入增加一个放大器
要分析放大器对整个系统噪声的影响,可以将其与噪声源分离,就像对ADC所做的那样。在这种情况下,可以将放大器建模为一个无噪声放大器,前面有一个与放大器的噪声相等的电压源。
由于不能直接测量输入参考噪声,需要首先确定上图所示系统的输出参考噪声。假设放大器和ADC噪声不相关,取两个值的平方根(RSS)来确定总输出参考噪声。增加一级放大器,同时也会增加系统噪声, 计算放大器的输出噪声需要乘以放大器级的增益。
现在可以使用这个输出参考噪声方程,并将其转化为系统的等效输入参考噪声源。为此,首先将上图中电路简化为等效电路噪声模型,将两个噪声源合并为一个输入噪声源
为了从输出参考噪声中计算输入参考噪声,将每个单独的噪声项除以电路增益。
由等效输入参考噪声等式可知,运放增益足够大,ADC产生的噪声除以就会很小,此时可以忽略ADC的噪声,此时噪声主要以放大器噪声为主。对于级联多个放大器的电路计算输入参考噪声方式也是类似的。
因此,为了在单级或多级放大器配置中获得最佳性能,请选择低噪声、大增益的第一级放大器。
4 低分辨率和高分辨率ADC
对于低分辨率和高分辨率ADC而言,在选取配合的放大器上还是有些区别的。例如,较低分辨率的ADC可以与较高的噪声放大器配对使用,或使用更大的增益,仍能满足所需的系统噪声性能。
通过16位ADS114S08与24位ADS124S08相比。这两个ADC具有不同的分辨率,但在其他方面是相同的,包括集成可编程增益放大器(PGA)具有相同的放大器噪声。它们的相似性允许分析不同的ADC分辨率如何随增益变化而影响系统噪声。
下图显示了ADS114S08和ADS124S08以1V/V和2V/V的增益和所有可用的数据速率。如果选择任何数据速率(例如50SPS),并取这些增益下输入参考噪声的比率,则两个ADC都将得到大约2。换言之,当增益增加2倍时,噪声同时降低2倍。在这种情况下,增加增益可提高高分辨率(24位)和低分辨率(16位)ADC的系统噪声性能。
上图结果将其与下图进行比较,下图显示了使用64V/V和128V/V的最高增益进行的相同计算。在这里,较低分辨率的ADC保持了2的比率,而高分辨率ADC的比率已经降低到大约1。在后一种情况下,增加增益不再改善噪声性能。是什么导致了这种差异?
对于低分辨率(量化噪声占主导地位)的ADC,与放大器噪声相比,ADC噪声远大于放大器噪声,导致试中的第二项噪声随着增益成比例变化。在这种情况下,可以使用更大的增益值改善系统的噪声性能。
对于高分辨率(以热噪声为主)的ADC,情况正好相反,这种情况下,与放大器噪声相乘增益相比,ADC噪声要低很多,对于而言,ADC本来噪声就很小,即使随着增益的增加,整体噪声改变不明显。该种情况下,放大器的性能至关重要,在许多情况下,使用放大器导致比根本没有放大器的系统更差的系统分辨率。