【碳化硅】陷阱(traps)对SiC MOSFET阈值电压漂移的影响

本文深入探讨了碳化硅MOSFET的阈值电压漂移问题,重点关注了 traps 如何影响该现象。通过瞬态电流法,研究发现300毫秒时间常数的氧化物陷阱DP1是主要诱因,而界面陷阱DP2的影响较小。这些发现对于提升SiC MOSFET的可靠性至关重要。
摘要由CSDN通过智能技术生成

这篇文章是关于硅碳化物(SiC)金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的阈值电压漂移问题的研究。文章的主要目的是通过研究不同的陷阱(traps)对阈值电压漂移的影响,来解决SiC MOSFET的可靠性问题。

摘要(Abstract)

文章提出了一种研究方法,用于分析影响SiC MOSFET阈值电压漂移的不同陷阱的规律,并明确了导致SiC MOSFET阈值电压漂移的主要陷阱。通过瞬态电流法(transient current method)对陷阱进行表征,排除了SiC体陷阱的干扰,准确获得了栅氧陷阱的时间常数谱(time constant spectrum)。研究发现,导致SiC MOSFET阈值电压漂移的主要陷阱时间常数为300毫秒,而其他陷阱主要影响电流,对阈值电压漂移的贡献较小。此外,基于不同陷阱的激活能(activation energies),推断出陷阱的捕获机制是陷阱辅助隧穿效应(trap-assisted tunneling effect)和热电子发射效应(hot electron emission effect),相应的陷阱类型分别是氧

  • 25
    点赞
  • 10
    收藏
    觉得还不错? 一键收藏
  • 0
    评论
评论
添加红包

请填写红包祝福语或标题

红包个数最小为10个

红包金额最低5元

当前余额3.43前往充值 >
需支付:10.00
成就一亿技术人!
领取后你会自动成为博主和红包主的粉丝 规则
hope_wisdom
发出的红包
实付
使用余额支付
点击重新获取
扫码支付
钱包余额 0

抵扣说明:

1.余额是钱包充值的虚拟货币,按照1:1的比例进行支付金额的抵扣。
2.余额无法直接购买下载,可以购买VIP、付费专栏及课程。

余额充值