29. SRAM的面积大小与哪些因素有关()ABCD
A. 容量,即总的bit数目
B. 地址译码方式
C. 禁布区
D. BIST电路
解析:
BIST全程build-in self-test,中文名内建自测电路,是一种DFT技术,设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术,以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度。可以理解为一种自我检测的电路,方便用户查错。
禁布区:可以理解为通过设定一些来约束布线的区域
29. SRAM的面积大小与哪些因素有关()ABCD
A. 容量,即总的bit数目
B. 地址译码方式
C. 禁布区
D. BIST电路
解析:
BIST全程build-in self-test,中文名内建自测电路,是一种DFT技术,设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术,以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度。可以理解为一种自我检测的电路,方便用户查错。
禁布区:可以理解为通过设定一些来约束布线的区域