每日一题-4.29-SRAM面积

最新推荐文章于 2022-06-12 12:22:22 发布
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29. SRAM的面积大小与哪些因素有关()ABCD

A. 容量，即总的bit数目

B. 地址译码方式

C. 禁布区

D. BIST电路

解析：

BIST全程build-in self-test，中文名内建自测电路，是一种DFT技术，设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术，以此降低器件测试对自动测试设备（ATE）的依赖程度。可以理解为一种自我检测的电路，方便用户查错。

禁布区：可以理解为通过设定一些来约束布线的区域

mu_guang_
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