皮尔斯晶振电路的参数计算

今天看一下皮尔斯晶振电路,就长下面这个样子。

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皮尔斯晶振电路

来看一下电路参数作用及如何计算,帮助更好地设计MCU的晶振电路。

Rf: 晶振内部反馈电阻,它的作用是使反向器作为放大器工作,并接在Vin和Vout上,使放大器的Vout = Vin,从而强制它运行在线性区内。

不同的晶振,反馈电阻不一样,如下ST给出了对应的范围。

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不同频率晶振反馈电阻的范围

这个参数我们可以不用管。

Inv: 内部的反相器,作为放大器来用。

Q: 晶振/晶体。

Cs: 杂散电容,晶振的两个脚与PCB线路的杂散电容,一般在2~7pF之间。

Cl1、Cl2: 匹配电容,我们需要计算的,公式如下:

Cl: 晶振的负载电容,芯片的数据手册上一般会给出。

假设,,那:,则:。

: 外接电阻,这个电阻用来限制晶体的驱动功率,当晶体的功率耗散大于制造商的指定值,则要加,避免晶体被过驱动,当晶体上的功率耗散小于制造商的指定值,则不需要加,或者为0欧姆。

下面这个公式,反应了和的关系。

: 是晶体的最大驱动功率。

: 晶体的等效串联电阻。

和参数可以在晶振的规格书中找到。

是流过晶振电流的有效值(均方根),用表示,即:

流过晶振电流的峰峰值,用表示,等于有效值的倍,即:

我们再用示波器测量出晶振的驱动电流,这个值超过时,就需要加了。

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用示波器测试晶振的驱动电流
当确定了需要加,如何计算呢?

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和构成低通滤波器
如上图,和其实构成了一个低通滤波器,通带频率不能小于谐振频率,即可算出初始值。

π
算出后,还要再计算一下晶振的增益余量,增益余量用表示,增益裕量值为5是保证振荡器有效起振的最小值。

: 是晶振的跨导,在芯片的规格书中可以看到这个参数。

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: 是的临界值,有一个公式:

和都是已知的,可以算出增益余量,有的规格书会直接给出这个参数。

电路加了后,的公式里面需要加上,变为:

需要重新计算增益余量,看是否达到要求。

上面公式中的一些参数都可以在晶振的规格书中找到。

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晶振规格书里面的一些参数
今天的内容到这里就结束了,希望对你有帮助。

声明:

本号对所有原创、转载文章的陈述与观点均保持中立,推送文章仅供读者学习和交流。文章、图片等版权归原作者享有。参考原文:《皮尔斯晶振电路的参数计算》

<think>好的,我现在需要帮用户理解晶振的等效电路及其工作原理,还有电气特性。首先,我应该回顾一下用户提供的引用内容,看看里面有没有有用的信息。用户提到了引用[1]和引用[2],其中引用[1]提到了三点式电容振荡电路,还有22pf或30pf的电容选择问题。引用[2]则讲到了无源晶振需要负载电容形成时钟电路,产生正弦波信号,以及如何用万用表检测。 接下来,我需要整理晶振的基本等效电路模型。记得晶振在电路中可以等效为RLC电路,其中包含电感、电容和电阻。这应该是一个串联谐振电路的结构。需要解释每个元件的作用,比如动态电感L、动态电容C和电阻R代表损耗。同时,可能还有一个静态电容C0,代表晶振的电极和封装带来的电容。 然后工作原理部分,要结合三点式振荡电路来分析。用户提到的三点式电容振荡电路,其中晶振作为电感,配合两个外部电容C1和C2。需要说明这两个电容如何与晶振的等效电路共同作用,形成振荡条件。可能还需要提到皮尔斯振荡电路,这是单片机常用的结构。 关于负载电容的问题,用户引用的资料里提到22pf或30pf的电容选择,这可能与晶振的标称负载电容有关。需要解释如何计算负载电容,以及为什么选择这些特定的值。公式应该是CL=(C1*C2)/(C1+C2)+Cstray,其中Cstray是杂散电容。 电气特性方面,需要涵盖谐振频率(串联和并联)、品质因数Q值、频率稳定性、驱动电平以及温度特性等。这些参数如何影响晶振的性能,比如Q值高意味着频率稳定性好,但起振时间可能较长。 还要注意用户的问题中提到的等效电路和工作原理,需要确保这两个部分都覆盖到,并且结合引用中的内容,比如三点式电路的结构和负载电容的作用。可能还需要提到晶振的两种工作模式:串联谐振和并联谐振,以及它们在电路中的应用差异。 最后,生成的相关问题要围绕用户可能感兴趣的方面,比如如何计算负载电容、Q值的影响、温度补偿方法、起振问题排查以及不同振荡电路的结构差异。这些问题应该帮助用户进一步深入理解晶振的应用和设计考虑。 在回答过程中,要确保使用正确的中文术语,避免技术错误。比如,区分无源晶振和有源晶振,正确解释等效电路中的各个元件,以及准确引用用户提供的资料中的内容。同时,按照用户的系统级指令,数学公式要用$...$格式,独立公式用$$...$$,并且正确应用引用标识。</think>### 晶振等效电路与工作原理分析 #### 一、晶振等效电路模型 晶振在电气特性上可等效为**RLC谐振电路**,其完整等效模型包含以下元件: $$ X_{eq} = R + j\omega L + \frac{1}{j\omega C} \quad (C_0 \text{并联在外侧}) $$ - **动态电感$L$**:反映晶体机械振动惯性 - **动态电容$C$**:表征晶体弹性形变能力 - **等效电阻$R$**:代表振动能量损耗 - **静态电容$C_0$**:由电极和封装形成的寄生电容(典型值2-5pF)[^2] #### 二、三点式振荡电路原理 晶振实际应用中需配合外部电容构成**皮尔斯振荡电路**(三点式电容振荡改进型): ```text C1 ├───||───┐ │ ├─── Y1(晶振等效LCR) └───||───┘ C2 ``` 1. **起振条件**:环路增益$|Aβ|>1$,相位满足$0°$或$360°$整数倍 2. **电容作用**: - $C1,C2$与晶振等效参数共同决定谐振频率 - 标称负载电容计算式: $$ C_L = \frac{C1 \cdot C2}{C1 + C2} + C_{stray} $$ 其中$C_{stray}$为PCB走线寄生电容(通常3-5pF)[^1] #### 三、关键电气特性 | 参数 | 描述 | |--------------|----------------------------------------------------------------------| | 谐振频率 | 由$L,C,C_0$共同决定,分串联谐振(低阻抗)和并联谐振(高阻抗)两种模式 | | 品质因数Q | $Q=\frac{1}{R}\sqrt{\frac{L}{C}}$,典型值$10^4-10^6$,影响频率稳定性 | | 驱动电平 | 晶振功耗限制,过高会致频率漂移甚至损坏 | | 温度特性 | AT切型晶振温度系数约±0.04ppm/℃²,需温补电路应对极端环境 | #### 四、典型应用电路示例 ```text 10MΩ ┌───/\/\/───┐ │ │ ├───||──────┤ → MCU_OSCIN │ C1=22pF │ Y1 │ │ C2=22pF │ ├───||──────┤ → MCU_OSCOUT │ │ └─────┬─────┘ ┴ ``` *注:该电路使用22pF负载电容匹配8MHz晶振,电阻用于限制振荡幅度*
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