1. 前言
在高速串行互连系统中,采用在互连通道中串联 AC 耦合电容,实现不同电平
信号互连时的隔直作用。
这个电容值的选取,我在技嘉的B75的SATA接口,看到了选取的是0.01uF。
PCIE的接口上,看到了0.22uF
2. 这些值是怎么来的?
我在一篇硕士论文和一些回答里找到了一些答案:
在高速串行系统中,若驱动器在某时段内发送连“1”码,接收器上电压会呈指数降低,如图 所示,时间越长,压降△V越大,此时若码型变为“0”,则接收器上电压迅速降低并反相,电压降低的起点低于理想位置,使边沿变化时刻比理想位置提前,即 AC 耦合带来了码型相关抖动 TJ。
作者还有一些相关的推导:
我直接说下结论,这里作者通过长连0/1,推导出了电容值与数据码型相关抖动大小的一个公式。
文章很长我也没有看完,不过结论:这个AC耦合电容的选取,是跟PCS层编码规则出现的长连0/长连1导致的直流压降有关。
这个“压降”又会导致data depend jitter,即码型相关的抖动。
当然我也看到了一些其他回答:
还有一篇,《16Gbit/s 高速串并收发器调试及交流耦合电容选取方案》
文章工作:基于可测性设计 (DFT) 的高速 SerDes 调试方法实现了动态配置 SerDes 参数。测试了不同速率下高速 SerDes 的传输性能,并且验证了不同速率下交流(AC) 耦合电容的选取对 SerDes 性能的影响。
3. 资料
推导是从一篇哈工大的硕士论文里的看到的,还有一篇
《25 Gbps 跨背板高速串行链路信号完整性设计》蒋炜。
16_Gbit_s高速串并…调试及交流耦合电容选取方案_张秀均
这两篇文章都很好。
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