改进后的 PCB 布局设计
图 6 所示为改进后的布局,其优势是可减小功率回路面积,使多层结构达到高效率。该设计将 PCB 的第 2 层用作功率回路返回路径。该返回路径位于顶层的紧下方,形成小尺寸物理回路。垂直回路中的反向电流可使磁场自行消除,从而进一步减小寄生电感。图 6 中的侧视图展示了在多层 PCB 结构中形成小尺寸自行消除回路的概念。
将四个 0603 输入电容放置在尽可能接近高侧 MOSFET 的位置(位于图 6 中大容量输入去耦电容 CIN1 与 CIN2 之间),这四个电容具有较小的 0402 或 0603 外壳尺寸及较低的 ESL。这些电容的返回连接通过多个 12 mil 的过孔连接到第 2 层接地平面。第 2 层接地平面在 MOSFET 的紧下方提供了至低侧 MOSFET 源极端子的电流返回路径。
图 6:采用垂直功率回路设计的功率级和控制器的布局
此外,开关节点覆铜多边形区域只包含电感焊盘以及连接 MOSFET 所需的最小面积。接地平面覆铜区可屏蔽将 MOSFET 连接到电感端子的多边形覆铜区。SW 和 BST 的单层布局意味着 PCB 的底侧不会有 dv/dt 较高的过孔。这样可以避免在 EMI 测试期间,电场与基准接地平面耦合。最后,在电感两侧各使用一个陶瓷输出电容 COUT1 和 COUT2,优化输出电流回路。在输出端引出两个并联的返回路径可以将返回电流分成两部分,有助于减弱“地弹反射”效应。
图 7a 所示为
EMI 工程师完整指南1.8
于 2024-03-05 20:32:26 首次发布