结合结构特征基于测试集重排序的故障诊断方法

摘要

故障诊断是集成电路领域中的重要研究方向，基于测试激励集方法求解候选故障诊断是目前较为高效的诊断方法，而GTreord是目前具有较高诊断准确性的方法.在对GTreord方法深入研究的基础上，本文依据测试激励与候选故障诊断解之间的结构特征，通过分析电路故障输出响应，提出结合结构特征的测试激励集重排序的候选诊断（Reordering Test Default Diagnosis，RTDD）方法.根据测试激励对生成候选故障诊断解集合的影响程度的不同，提出测试分数概念；通过比较电路的实际故障输出响应、无故障输出响应、模型故障输出响应，计算出测试激励的测试分数.测试激励集依据测试分数进行重排序，并将重排序后的测试激励集用于故障诊断.实验结果表明，与GTreord方法相比，RTDD方法提高了测试激励集重排序的效率，求解时间提高1~4个数量级；此外，在保障同样诊断准确性的情况下，RTDD方法有效减少了所需测试的激励个数.

关键词： 故障诊断 ; 测试分数 ; 测试激励集重排序

1 引言

随着现代半导体工业的迅猛发展，如今集成电路