STM32基础篇：ADC

ADC简介

ADC是Analog to Digital Converter的缩写，是一种将模拟信号转换为数字信号的转换器。

采样深度

指用多少位二进制数来表示一个采样点。

比如对于单片机来说，输入到单片机的模拟电压范围为：0~3.3V，现在我们要通过ADC将其表示为数字信号，如果使用的是4位ADC，就意味着二进制的0000~1111用来表示模拟信号的0~3.3V，因此二进制每一位就代表0.22V；对于8位ADC同理，具体如下：

 ADC的采样深度越深，转换的结果越精细，因此采样深度是衡量ADC性能的重要指标之一。

---

逐次逼近型

逐次逼近型式ADC的一种最常见的类型，STM32里的ADC就属于这种类型。其工作原理类似于天平称重，我们需要不断的调整砝码的组合，来一次一次的逼近被测物体的实际质量。

如下为逼近型ADC的内部结构框图：

首先需要被转换的模拟信号（假设为2.21V电压）通过开关闭合，向电容充电；当电容充满电后，它两端的电压就相当于输入信号的电压，也就是2.21V；

然后开关断开，被充进电容的电只能继续锁在电容里（因为比较器虚断），始终维持2.21V，因此比较器的正输入端也维持在2.21V不变。

向b3比特位写1，此时为1000，电压发生器输出的电压就是1.76V，比2.21V要小；继续往b2比特位写1，此时为1100，电压发生器输出电压为2.64V，比2.21V要大，因此b2比特位为0；以此类推，最终得到4位比特位为：1010

附其他ADC类型：

---

ADC模块基本原理

我们将上述的逼近型ADC的内部结构框图用如下图形表示：

其中SAR就是逐次逼近型的英文缩写。

通过上文提到的模数转换过程，我们可以得到如下的基本结构：ADC将模拟信号转换为数字信号后，再把结果（二进制数）保存在结果寄存器当中，最后我们再从结果寄存器中读出数据即可。

但我们需要对不止一个模拟信号进行同时转换，比如有很多路模拟信号都被输入到单片机当中（如下图所示），难道我们需要为每一路模拟信号都提供一个ADC吗？

答案是否定的，我们对上图电路稍作变形，如下所示：可以只使用一个ADC对多路信号进行同时转换了。

注意，ADC虽然只有一个，但采样开关却有多个。首先闭合第一路模拟信号的开关，将第一路模拟信号进行模数转换并保存数据后，再读出来；然后对后面几路的进行重复的步骤，直到所有路的模拟信号都被转换完为止。

对于STM32芯片来说，它内部的单片机最多可以同时接收12路模拟信号，如下图所示：

其中前10路模拟信号通过芯片的IO引脚输入进来的，而剩下2路模拟信号来自于芯片内部，其中一路来自于芯片内部的温度计，另一路来自于参考电压；

---

常规序列与注入序列

ADC内部通过常规序列和注入序列来控制采样开关，而且这两种序列都有一个外部触发信号，我们通过这个外部触发信号来启动序列的执行。

例如我们想依次对AIN1、AIN4、AIN2进行模数转换，首先我们需要将这个“计划”写入序列中（两种任选一个），然后向外部触发输入一个脉冲信号。这样，序列就会执行“计划”，通道1，4，2就会被依次转换。

每输入一个外部触发信号，序列就会将“计划”执行一遍，如下图所示：

---

采样时间与转换时间

1、基本概念

我们已经知道，使用逐次逼近型ADC将模拟信号转换为数字信号的过程，就类似于使用天平称重。

称重的过程可分为两步：第一步，把待测物品放在天平的托盘上；第二部，通过调整砝码的组合来逼近待测物体的实际质量。

而对于ADC来说，可以把放重物所消耗的时间类比成ADC的采样时间，把调整砝码所消耗的时间，类比成ADC的转换时间。

---

2、ADC的时钟信号

输入到ADC的时钟信号，是通过PCLK2分频后得到的，并且对于ADC来说，其时钟频率不能大于14MHz，否则无法正常工作。

对于采样时间和转换时间，都需要表示成时钟周期的倍数的形式（为了方便后面的编程）。

例如，假设输入到ADC模块的时钟频率是14MHz， 那么可以计算出时钟周期为1/14us；再假设采样时间为0.1us、转换时间为0.9us，因此要将采样时间表示为1.5*1/14us=1.5周期、将转换时间表示为：12.5*1/14us=12.5周期。

---

3、两种时间的计算

• 关于转换时间：

转换时间的长短取决于采样深度，对于STM32芯片，其ADC为12位，每确定一位都要消耗一个时钟周期（因此共12个周期）。此外还要加上0.5倍的额外周期，总转换时间就固定等于12.5倍周期。

• 关于采样时间：

采样时间就是把模拟信号通过采样保持电路输入到ADC里花的时间。结合采样的过程可知，采样时间就等于电容充电时间。

且电容两端的电压只会无限接近于充电电压，两者之间总会存在误差。充电时间越长，这个误差就越小（即：采样时间越长，误差越小，结果就越精确）。

但这个时间不是越长越好，因为太长会导致时间的浪费，且ADC的精度本来就是有限的。因此我们要在精度和效率之间找一个平衡点。

我们只需要保证采样所产生的误差远小于ADC最大精度就可以了，这样就不会对最终的测量结果产生任何影响。

具体标准是：采样误差＜¼*ADC分辨率，以12位ADC为例：

采样时间就是根据这个原理得来的，具体如下：

其中R_AIN为信号源内阻，其他均已在芯片内部被配置好，因此采样时间只与信号源内阻有关。

---

4、采样时间的档位

对于STM32单片机而言，它里面的ADC采样时间只有几个固定的档位，我们需要从这几个固定的档位里面选择一个。

采样时间的8个可选档位
1.5周期	7.5周期	13.5周期	28.5周期
41.5周期	55.5周期	71.5周期	239.5周期

实际编程时选择一个最接近的档位即可。