新成果展示:具有倾斜台面的Micro-LED模型数据库的开发与应用

       智能手机、平板、电脑等高分辨率显示产品的快速发展,促使整个行业对高性能显示器的需求不断增加,基于Micro-LED的显示技术开始慢慢走进人们的视野。基于Micro-LED的显示技术除了巨量转移、全彩显示、驱动电路及坏点检测与修复外,单个器件较低的发光效率也是目前亟需解决的问题之一。因此,天津赛米卡尔科技有限公司技术团队基于TCAD仿真平台开发了具有倾斜台面的GaNMicro-LED的多种模型数据库,并系统地研究了倾斜角度对器件光电性能的影响。如图1所示,研究结果发现:台面的倾斜角度越小,器件的光提取效率会得到一定程度的改善。

图1 (a)Device 1和(b)Device 5的2D电场分布图;(c)Device 1和Device 5在Y= -2.5 μm处的1D电场分布图;(d)Device 1至Device 5的光提取效率

       除此之外,台面的倾斜角度也会对器件的电学性能产生影响,如图2所示,这主要体现在两个方面:一是倾斜的台面会造成侧壁区域的电场增加,导致边缘区域的量子阱中量子限制斯塔克响应增强,从而降低器件的有效辐射复合效率;二是台面的倾斜角度越大,载流子向台面边缘扩展的趋势越明显,从而导致载流子被侧壁缺陷捕获的可能性增加,器件性能变差。因此,合理地设计GaN基Micro-LED器件的台面倾斜角度对器件的光电性能尤为重要。

图2 (a)各器件内部横向的电场分布,(b)Device 1和(c)Device 5边缘区域量子阱中的能带图,(d)各器件的非辐射复合电流随外加电流密度的变化曲线。其中Device 1/Ⅰ, 2/Ⅱ, 3/Ⅲ, 4/Ⅳ和5/Ⅴ的台面倾斜角度分别为45°,53°,63°,79°和90°

该成果最近被应用物理及光学领域权威SCI期刊Optics Express (vol. 30, no. 21, pp. 37675-37685, 2022) 收录,文章链接:https://doi.org/10.1364/OE.470703.

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